[发明专利]用于静电保护的高压NLDMOS结构有效
申请号: | 201210240391.5 | 申请日: | 2012-07-12 |
公开(公告)号: | CN103545365A | 公开(公告)日: | 2014-01-29 |
发明(设计)人: | 苏庆;苗彬彬;王邦磷;邓樟鹏 | 申请(专利权)人: | 上海华虹NEC电子有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/06;H01L29/36 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 张骥 |
地址: | 201206 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于静电保护的高压NLDMOS结构,包括一N型LDMOS,形成于一硅衬底上方的N型埋层内;N型LDMOS排列成多指状结构;位于两个漏区之间的源区为共源区;所述漏区的有源区内由N型有源区与P型有源区沿长度方向相间排布;所述共源区内插入P型有源区,P型有源区嵌入在N型有源区内,P型有源区将源区内的N型有源区分别隔开;P型有源区与N型有源区沿长度方向相间排布;所有的漏极共连接ESD进入端,所有的源极共连接地,所有的栅极共连接信号端。本发明通过改变源区上靠近栅极的P+扩散区的宽度,能够有效调整触发电流和骤回电压。本发明用于高压静电保护,既可以有效地提高LDMOS的抗闩锁能力,又能够保证其静电防护能力不受影响。 | ||
搜索关键词: | 用于 静电 保护 高压 nldmos 结构 | ||
【主权项】:
一种用于静电保护的高压NLDMOS结构,其特征在于:包括一N型LDMOS,形成于一硅衬底上方的N型埋层内;N型LDMOS排列成多指状结构;位于两个漏区之间的源区为共源区;所述漏区的有源区内由N型有源区与P型有源区沿长度方向相间排布;所述共源区内插入P型有源区,P型有源区嵌入在N型有源区内,P型有源区将源区内的N型有源区分别隔开;P型有源区与N型有源区沿长度方向相间排布;所有的漏极共连接ESD进入端,所有的源极共连接地,所有的栅极共连接信号端。
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