[发明专利]用于探测光的装置和方法有效
申请号: | 201210240807.3 | 申请日: | 2012-07-11 |
公开(公告)号: | CN102879088A | 公开(公告)日: | 2013-01-16 |
发明(设计)人: | H·比尔克;V·塞弗里德 | 申请(专利权)人: | 徕卡显微系统复合显微镜有限公司 |
主分类号: | G01J1/42 | 分类号: | G01J1/42;G01J1/04 |
代理公司: | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 | 代理人: | 王勇;王博 |
地址: | 德国韦*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 用于探测光的装置,用在显微镜、光谱仪或照相机中,包括至少一个硅光电倍增管(SiPM),其由多个单光子雪崩二极管(SPADs)的阵列组成,该阵列的面积大于入射光的面积,其中仅仅激活和/或分析那些以特定最小强度的光入射其上的SPADs。采用该装置的方法。 | ||
搜索关键词: | 用于 探测 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种用于探测光的装置,特别地用在显微镜、光谱仪或照相机中,包括至少一个硅光电倍增管(SiPM),其由多个单光子雪崩二极管(SPADs)的阵列组成,该阵列的面积大于入射光的面积,其中仅仅激活和/或分析那些以特定最小强度的光入射其上的SPADs。
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