[发明专利]集成电路开/短路测试方法及测试机

摘要

本发明涉及一种集成电路OS测试机，包括控制单元、电源模块、测试插座、扫描测试模块、指示模块及控制按钮；测试插座用于插放IC；扫描测试模块包括电流发生电路、开关控制电路以及电压测试电路，电流发生电路用于通过测试插座对IC的管脚提供定值电流，开关控制电路用于控制IC的管脚接地，电压测试电路用于测试管脚的电压；控制按钮用于控制测试机在扫描识别模式和测试模式间切换；控制单元用于在扫描识别模式下得到良品IC的管脚分布表，及在测试模式下对待测IC进行开/短路测试并将失效信息输出给指示模块进行失效信息指示。本发明还涉及一种集成电路OS测试方法。本发明只需在开始时放上良品IC进行扫描识别，后续即可对待测IC进行连续测试。

主权项

一种集成电路开/短路测试方法，包括下列步骤：将集成电路芯片良品插入测试插座内；测试所述集成电路芯片良品的每个管脚与其余所有管脚间的对地二极管的数量，得到所述每个管脚与其余所有管脚间的对地二极管分布信息；将与其余所有管脚间对地二极管数量最多的一管脚判定为第一地脚；测试所述集成电路芯片良品的每个管脚与其余所有管脚间的对电源二极管的数量，得到所述每个管脚与其余所有管脚间的对电源二极管分布信息；将与其余所有管脚间对电源二极管数量最多的一管脚判定为第一电源脚；根据所述第一地脚与其余所有管脚间的对地二极管分布信息和第一电源脚与其余所有管脚间的对电源二极管分布信息，得到管脚分布表；将待测集成电路芯片插入测试插座内；读取所述管脚分布表；根据所述管脚分布表配置所述待测集成电路芯片的第一地脚并进行扫描测试，若测试结果与所述对地二极管分布信息不一致，则判定所述待测集成电路芯片失效；根据所述管脚分布表配置所述待测集成电路芯片的第一电源脚并进行扫描测试，若测试结果与所述对电源二极管分布信息不一致，则判定所述待测集成电路芯片失效。