[发明专利]一种加固集成电路内引线键合力的方法有效
申请号: | 201210246504.2 | 申请日: | 2012-07-17 |
公开(公告)号: | CN102751206A | 公开(公告)日: | 2012-10-24 |
发明(设计)人: | 杨成刚;苏贵东;连云刚 | 申请(专利权)人: | 贵州振华风光半导体有限公司 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;H01L21/607 |
代理公司: | 贵阳中工知识产权代理事务所 52106 | 代理人: | 刘安宁 |
地址: | 550018 贵*** | 国省代码: | 贵州;52 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了加固集成电路内引线键合力的方法,该方法是引线键合检测结果表明如果不满足质量要求,即进入高温加固工序,再进行键合拉力检测合格后,直接进入封帽及其后续工序;采取的加固措施是先进行内引线球焊键合或超声键合,实现金属与金属的直接焊接;再在惰性气体气氛或高真空环境中,加热至键合系统低熔点键合材料熔点温度的50%~80%,即可达到加固键合强度、提升键合力的目的。本方法特点:①不需外加固化物,即可增强不良键合系统的键合强度,提升内引线键合拉力;②采用金属原子间形成化学键的方法提升键合强度,产品永久安全可靠;③不引入外来杂质,确保产品可靠;④工艺简单,适用于大批量生产;⑤提高产品成品率和可靠性。 | ||
搜索关键词: | 一种 加固 集成电路 引线 合力 方法 | ||
【主权项】:
一种加固集成电路内引线键合力的方法,其特征在于引线键合检测结果表明如果整批工序产品符合工序质量要求,则直接进入封帽工序,如果不满足工序质量要求,则进入高温加固工序,再进行键合拉力检测后,直接进入封帽工序及其他后续工序;对于不符合质量要求的产品采取的措施是先进行内引线球焊键合或超声键合,实现金属与金属的直接焊接;再在惰性气体气氛或真空环境中,加热至键合系统低熔点键合材料熔点温度的50%~80%,即可达到加固键合强度、形成欧姆接触、提升键合力的目的。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于贵州振华风光半导体有限公司,未经贵州振华风光半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210246504.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:相位差薄膜、偏光片及液晶显示装置
- 下一篇:汞标准气发生装置
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造