[发明专利]半导体装置及其测试方法无效
| 申请号： | 201210248152.4 | 申请日： | 2007-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN102855939A | 公开（公告）日： | 2013-01-02 |
| 发明（设计）人： | 服部孝;桥诘由美子;西野龙宏;池田浩司 | 申请（专利权）人： | 瑞萨电子株式会社 |
| 主分类号： | G11C29/16 | 分类号： | G11C29/16;G11C29/50 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 李兰;孙志湧 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种半导体装置及其测试方法。半导体装置包括：存储器芯片，包括要测试的存储器电路；以及逻辑芯片，包括内部逻辑电路和与内部逻辑电路和存储器电路连接的测试处理器，用于通过外部引脚来访问存储器电路并且测试存储器电路，其中测试处理器包括高速测试控制电路，其能够在测试存储器电路时，根据测试速度来选择在外部引脚和存储器电路之间的信号传输速率，高速测试控制电路包括高速测试调节电路，高速测试调节电路包括由第一时钟控制的串联连接的多级触发器；以及当测试处理器以实际操作速度来执行高速测试时，高速测试调节电路将信号传输速率设置到期望的信号传输速率。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 装置 及其 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种半导体装置，包括：存储器芯片，包括要测试的存储器电路；以及逻辑芯片，包括内部逻辑电路和与内部逻辑电路和存储器电路连接的测试处理器，用于通过外部引脚来访问存储器电路并且测试存储器电路，其中测试处理器包括高速测试控制电路，其能够在测试存储器电路时，根据测试速度来选择在外部引脚和存储器电路之间的信号传输速率，高速测试控制电路包括高速测试调节电路，高速测试调节电路包括由第一时钟控制的串联连接的多级触发器；以及当测试处理器以实际操作速度来执行高速测试时，高速测试调节电路将信号传输速率设置到期望的信号传输速率。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于瑞萨电子株式会社，未经瑞萨电子株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201210248152.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
