[发明专利]一种具有深能级杂质注入的绝缘栅双极性晶体管无效

专利信息
申请号: 201210248777.0 申请日: 2012-07-18
公开(公告)号: CN102779839A 公开(公告)日: 2012-11-14
发明(设计)人: 李泽宏;李巍;张蒙;李长安;张金平;任敏;张波 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01L29/36 分类号: H01L29/36;H01L29/739
代理公司: 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人: 温利平
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 一种具有深能级杂质注入的绝缘栅双极性晶体管,属于半导体功率器件技术领域。本发明在传统Planar FS-IGBT基础上,在其N-漂移区(8)中注入深能级N型杂质。通过深能级杂质随着温度升高,电离度升高,杂质浓度上升这一特性,能有效减小IGBT寄生PNP晶体管αPNP,从而减小IGBT的高温漏电流,进一步减少IGBT的整体功耗;N-漂移区(8)增加的电子浓度和空穴在漂移区加速复合,而且深能级杂质本身就是复合中心,进一步加速电子空穴的复合,减少IGBT的关断过程,有效改善关断特性,提高IGBT的可靠性。
搜索关键词: 一种 具有 能级 杂质 注入 绝缘 极性 晶体管
【主权项】:
一种具有深能级杂质注入的绝缘栅双极性晶体管,其元胞结构如图2所示,包括有源发射极(1),多晶硅栅电极(2),金属集电极(3),二氧化硅栅氧化层(4),N+有源区(5),P型基区(6),P+体区(7),N‑漂移区(8),N+电场终止层(9),P+集电区(10);器件从底层往上依次是金属化集电极(3)、P型集电区(10)、N+电场终止层(9)、N‑漂移区(8),P型基区(6)位于N‑漂移区(8)顶部两侧,P型基区(6)内具有N+有源区(5),P+体区(7)位于P型基区(6)下方的N‑漂移区(8)两侧、且与P型基区(6)和N‑漂移区(8)分别接触;元胞表面两侧分别与N+有源区(5)和P型基区(6)接触的是有源发射极(1),元胞表面中间分别与N+有源区(5)、P型基区(6)和N‑漂移区(8)接触的是二氧化硅栅氧化层(4),二氧化硅栅氧化层(4)表面是多晶硅栅电极(2),多晶硅栅电极(2)与有源发射极(1)之间填充绝缘介质;所述N‑漂移区(8)内部掺杂了深能级N型杂质。
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