[发明专利]信息处理装置和方法、程序和校正荧光光谱的强度的方法有效
| 申请号： | 201210254464.6 | 申请日： | 2012-07-18 |
| 公开（公告）号： | CN102901693A | 公开（公告）日： | 2013-01-30 |
| 发明（设计）人： | 关野正志;加藤泰信;伊藤达巳 | 申请（专利权）人： | 索尼公司 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 李晓冬 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 公开了信息处理装置和方法、程序和校正荧光光谱的强度的方法。提供了一种信息处理装置，包括：估计单元，该估计单元将通过将光照射到测量对象的测量物而获得的光强度分布表述为通过将光照射到基准测量物而获得的光强度分布的线性组合，将从每个基准测量物获得的光强度分布建模为遵循预定的概率分布，并且根据从测量对象的测量物获得的光强度分布估计线性组合的组合系数，其中测量对象的测量物在该测量物的表面和/或内部具有对光的响应特性相互不同的多个物质，并且每个基准测量物具有单个物质。 | ||
| 搜索关键词： | 信息处理 装置 方法 程序 校正 荧光 光谱 强度 | ||
【主权项】：
一种信息处理装置，包括：估计单元，该估计单元将通过将光照射到测量对象的测量物而获得的光强度分布表述为通过将光照射到基准测量物而获得的光强度分布的线性组合，将从每个所述基准测量物获得的光强度分布建模为遵循预定的概率分布，并且根据从所述测量对象的测量物获得的光强度分布估计所述线性组合的组合系数，其中所述测量对象的测量物在该测量物的表面和/或内部具有对光的响应特性相互不同的多个物质，并且每个所述基准测量物具有单个物质。
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