[发明专利]一种全自动IC卷带的检测方法及其检测设备有效

专利信息
申请号: 201210256841.X 申请日: 2012-07-24
公开(公告)号: CN102773878A 公开(公告)日: 2012-11-14
发明(设计)人: 林宜龙;徐宁;刘国才;付义超;林清岚 申请(专利权)人: 格兰达技术(深圳)有限公司
主分类号: B26F1/02 分类号: B26F1/02;B26D7/06;B26D7/26;B26D7/27
代理公司: 北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 代理人: 齐永红
地址: 518000 广东省深圳市坪*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种全自动IC卷带的检测方法及其检测设备,包括以下步骤:伺服电机正转控制IC卷带从上下料模组装置下料,经过导轨模组装置输送至辅助卷带模组装置上料,在此过程中,电气控制系统控制检测相机对IC卷带进行检测并记录,简称一检;然后伺服电机反转控制IC卷带从辅助卷带模组装置下料,经过导轨模组装置输送至上下料模组装置上料,在此过程中,电气控制系统控制检测相机对IC卷带进行检测并记录,简称二检;对比一检和二检的结果,如果检测结果均为不合格,则对不合格品进行标记;如果一检合格、二检不合格或者一检不合格、二简合格,则通知人工进行确认,如果人工判断为不合格品,则对不合格品进行标记。
搜索关键词: 一种 全自动 ic 检测 方法 及其 设备
【主权项】:
一种全自动IC卷带的检测方法,其特征在于,包括以下步骤:伺服电机正转控制IC卷带从上下料模组装置下料,经过导轨模组装置输送至辅助卷带模组装置上料,在此过程中,电气控制系统控制检测相机对IC卷带进行检测并记录,简称一检;然后伺服电机反转控制IC卷带从辅助卷带模组装置下料,经过导轨模组装置输送至上下料模组装置上料,在此过程中,电气控制系统控制检测相机对IC卷带进行检测并记录,简称二检;对比一检和二检的结果,如果检测结果均为不合格,则对不合格品进行标记;如果一检合格、二检不合格或者一检不合格、二简合格,则通知人工进行确认,如果人工判断为不合格品,则对不合格品进行标记。
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