[发明专利]一种有源天线系统射频指标的测试方法和装置有效
| 申请号： | 201210264054.X | 申请日： | 2012-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN102857309A | 公开（公告）日： | 2013-01-02 |
| 发明（设计）人： | 王博明;李香玲;曹长江;韩香紫 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/00 | 分类号： | H04B17/00 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 吴艳;龙洪 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种有源天线系统射频指标的测试方法和装置，将被测有源天线系统置于测试罩内进行射频指标的测试，测试罩包括天线阵列部分与无源网络部分，天线阵列部分与被测有源天线系统的天馈部分相同；其方法包括：测试罩单体校准：校准测试罩自身所产生的差损和相位偏移量；近场耦合校准：用两个经过单体校准的测试罩，对测试罩的近场耦合测试环境进行校准；射频指标测试：将被测有源天线系统置于校准后的测试罩内并与其构成近场耦合方式，其测试环境和近场耦合校准环境相同，使用得到的校准结果对测试环境进行补偿后，通过测试罩上的射频测试接口对被测有源天线系统进行射频指标测试，得到有源天线系统射频端口的射频指标。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 有源 天线 系统 射频 指标 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种有源天线系统射频指标的测试方法，其特征在于，将被测有源天线系统置于测试罩内进行射频指标的测试，其中所述测试罩包括天线阵列部分与无源网络部分，所述天线阵列部分与所述被测有源天线系统的天馈部分相同；所述方法包括：测试罩单体校准：校准所述测试罩自身所产生的差损和相位偏移量；近场耦合校准：用两个经过所述测试罩单体校准的测试罩，对所述测试罩的近场耦合测试环境进行校准；射频指标测试：将所述被测有源天线系统置于校准后的所述测试罩内并与其构成近场耦合方式，其测试环境和所述近场耦合校准测试环境相同；使用校准过程得到的校准结果对所述测试环境进行补偿后，通过所述测试罩上的射频测试接口对所述被测有源天线系统进行射频指标测试，得到所述被测有源天线系统射频端口的射频指标。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中兴通讯股份有限公司，未经中兴通讯股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201210264054.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
