[发明专利]针尖增强暗场显微镜、电化学测试装置和调平系统有效
| 申请号： | 201210288539.2 | 申请日： | 2012-08-14 |
| 公开（公告）号： | CN102798735A | 公开（公告）日： | 2012-11-28 |
| 发明（设计）人： | 田中群;王芳芳;詹东平;周剑章 | 申请（专利权）人： | 厦门大学 |
| 主分类号： | G01Q60/22 | 分类号： | G01Q60/22 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 李新红 |
| 地址： | 361005 *** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明提供一种针尖增强暗场显微镜、电化学测试装置和调平系统。本发明的针尖增强暗场显微镜的特征在于，所述针尖增强暗场显微镜使用光纤探针，所述光纤探针的针尖处修饰有金属纳米颗粒，而且入射光在修饰有金属纳米颗粒的光纤探针内部传输，针尖和样品间的距离采用光强控制模式，是一种利用了探针针尖处纳米金属颗粒与金属基底材料近场耦合作用的局域表面等离激元共振暗场耦合装置。该显微镜可用于研究基底表面的双电层结构、吸/脱附行为及多相催化等基础表界面化学问题。另外，基于LSPR距离敏感性原理，针尖增强暗场显微镜可应用于三探针水平传感器对纳米加工平台进行自适应调平。 | ||
| 搜索关键词： | 针尖 增强 暗场 显微镜 电化学 测试 装置 系统 | ||
【主权项】：
一种针尖增强暗场显微镜，其特征在于，所述针尖增强暗场显微镜使用光纤探针，所述光纤探针的针尖处修饰有金属纳米颗粒，而且入射光在修饰有金属纳米颗粒的光纤探针内部传输，针尖和样品间的距离采用光强控制模式，是一种利用了探针针尖处纳米金属颗粒与金属基底材料的近场耦合作用的局域表面等离激元共振暗场耦合装置。
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