[发明专利]LED器件寿命检测方法及检测电路及该检测电路的应用

摘要

本发明提供了一种LED器件寿命检测方法包括以下步骤：建立LED器件在正常工作电流下的光通量变化趋势及LED器件在测试电流的电压变化趋势的曲线图，得出两者的线性关系；提供老化电流至被测试LED器件，当老化时间到，切换至测试电流；此时，检测并记录被测试LED器件两端的电压值；然后，将测试电流重新切换至老化电流，在不同的时间点重复检测；提供多个测试电流重复检测；根据检测到的电压值画出LED器件的电压变化趋势的曲线图；推导出被测试LED器件的光通量变化趋势的曲线图，评估出被测试LED器件的寿命。本发明检测周期短，节省人工成本，在检测过程中减少人为因素对老化检测结果的影响，增加检测的精确度。

主权项

一种LED器件寿命检测方法，其特征在于，包括以下步骤：a、建立LED器件在正常工作电流下的光通量变化趋势及LED器件在测试电流的电压变化趋势的曲线图，根据该曲线图得出LED器件在正常工作电流下的光通量变化趋势及LED器件在测试电流的电压变化趋势的线性关系；b、提供一老化电流至被测试LED器件，使被测试LED器件持续点亮老化；当老化时间到，将老化电流切换至测试电流；此时，检测并记录被测试LED器件两端的电压值，完成一次老化‑测试周期；然后，将测试电流重新切换至老化电流，在不同的时间点重复上述检测动作；c、提供多个不同电流值的测试电流重复上述b步骤，对应的检测并记录被测试LED器件两端的电压值；d、根据检测到的电压值画出被测试LED器件在测试电流的电压变化趋势的曲线图；e、根据LED器件在正常工作电流下的光通量变化趋势与LED器件在测试电流的电压变化趋势的线性关系推导出被测试LED器件的光通量变化趋势的曲线图，以电压变化趋势与光通量变化趋势最为匹配的一组曲线图为依据，将对应时间点的光通量与被测试LED器件的初始光通量相比，评估出被测试LED器件的寿命。