[发明专利]一种高维持电压的可控硅横向双扩散金属氧化物半导体管有效
申请号: | 201210289462.0 | 申请日: | 2012-08-14 |
公开(公告)号: | CN102832232A | 公开(公告)日: | 2012-12-19 |
发明(设计)人: | 刘斯扬;黄婷婷;卫能;严岩;钱钦松;孙伟锋;陆生礼;时龙兴 | 申请(专利权)人: | 东南大学 |
主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06;H01L29/78 |
代理公司: | 南京天翼专利代理有限责任公司 32112 | 代理人: | 汤志武 |
地址: | 214135 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 一种高维持电压的可控硅横向双扩散金属氧化物半导体管,包括:N型衬底,在N型衬底上设有埋氧,在埋氧上设有N型外延层,在N型外延层的内部设有N型缓冲阱和P型体区,在N型缓冲阱内设有P型阳区和N型体接触区,在P型体区中设有N型阴区和P型体接触区,在N型外延层的表面设有栅氧化层和场氧化层,在N型阴区和P型体接触区表面设有浅P型阱区,在栅氧化层的表面设有多晶硅栅,其特征在于,在P型阳区和N型体接触区正下方设有深N型阱区,在浅P型阱区正下方设有深P型阱区,这两个区域均能有效地抑制载流子双注入效应,使得在漂移区中自由载流子中和的数目减少,从而提高了器件维持电压,降低了泄放静电过程中闩锁发生的风险。 | ||
搜索关键词: | 一种 维持 电压 可控硅 横向 扩散 金属 氧化物 半导体 | ||
【主权项】:
一种高维持电压的可控硅横向双扩散金属氧化物半导体管,包括:N型衬底(1),在N型衬底(1)上设有埋氧(2),在埋氧(2)上设有N型外延层(3),在N型外延层(3)的内部设有N型缓冲阱(4)和P型体区(16),在N型缓冲阱(4)内设有P型阳区(5)和N型体接触区(19),在P型体区(16)中设有N型阴区(15)和P型体接触区(14),在N型外延层(3)的表面设有栅氧化层(11)和场氧化层(8)且栅氧化层(11)的一端和场氧化层(8)的一端相抵,所述栅氧化层(11)的另一端向N型阴区(15)延伸并止于N型阴区(15)的边界,所述场氧化层(8)的另一端向P型阳区(5)延伸并止于P型阳区(5)的边界,在N型阴区(15)和P型体接触区(14)表面设有浅P型阱区(13),且浅P型阱区(13)延伸至栅氧化层(11)下方,在栅氧化层(11)的表面设有多晶硅栅(10)且多晶硅栅(10)延伸至场氧化层(8)的上表面,在场氧化层(8)、P型体接触区(14)、N型阴区(15)、多晶硅栅(10)、P型阳区(5)和N型体接触区(19)的表面设有钝化层(7),在P型阳区(5)和N型体接触区(19)表面连接有第一金属层(6),在多晶硅栅(10)的表面连接有第二金属层(9),在P型体接触区(14)和N型阴区(15)表面连接有第三金属层(12),其特征在于,在P型阳区(5)和N型体接触区(19)正下方设有深N型阱区(18),所述深N型阱区(18)位于N型缓冲阱(4)内。
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