[发明专利]分析物检测方法和分析物检测集成电路无效

专利信息
申请号: 201210297427.3 申请日: 2012-08-20
公开(公告)号: CN102954984A 公开(公告)日: 2013-03-06
发明(设计)人: 菲利浦·弗雷德里;弗里斯科·耶德玛;戴维·斯滕温克尔;希尔柯·瑟伊 申请(专利权)人: NXP股份有限公司
主分类号: G01N27/00 分类号: G01N27/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 倪斌
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 公开了一种提供功能化集成电路的方法,使第一感测电极在表面处包括选择性结合到感兴趣第一分析物的第一受体分子,第二感测电极在表面处包括选择性结合到感兴趣第二分析物的第二受体分子;将功能化集成电路暴露到潜在包括第一分析物和第二分析物中至少一种的样品;提供附着到第一分子、具有第一电学签名的第一珠子,第一分子具有依赖于样品中第一分析物的存在而结合到第一感测电极的构造或亲和力;提供附着到第二分子、具有第二电学签名的第二珠子,第二分子具有依赖于样品中第二分析物的存在而结合到第二感测电极的构造或亲和力;分别确定第一感测电极和第二感测电极上第一珠子和/或第二珠子的电学签名的存在。还提供了一种实现这种方法的IC。
搜索关键词: 分析 检测 方法 集成电路
【主权项】:
一种对集成电路(10)进行功能化的方法,所述集成电路包括承载多个感测电极(16)的暴露表面,所述方法包括:提供一种包括多个生物分子受体分子(30,30’)的溶液,所述多个生物分子受体分子(30,30’)用于选择性地结合到不同的感兴趣分析物(40,40’);以及将所述表面暴露到所述溶液,从而形成所述受体分子在相应感测电极上的随机分布。
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