[发明专利]一种苹果表面缺陷检测系统和方法有效

专利信息
申请号: 201210300784.0 申请日: 2012-08-22
公开(公告)号: CN102854192A 公开(公告)日: 2013-01-02
发明(设计)人: 赵春江;张驰;黄文倩;郭志明;王庆艳;李江波;李斌 申请(专利权)人: 北京农业智能装备技术研究中心
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 王莹
地址: 100097 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种苹果表面缺陷检测系统,所述系统包括:传送装置(1),位于传送装置正上方的光照箱(2)所述光照箱(2);所述光照箱(2)内部下方安装有可见/近红外复合LED光源装置(3),内部上方正中央安装有点阵近红外结构光投射器(7),所述点阵近红外结构光投射器(7)一侧安装有黑白工业相机(4)和彩色工业相机(6);所述黑白工业相机(4)通过电缆连接到计算机(10)的近红外图像采集卡(8)上,所述彩色工业相机(6)通过电缆连接到计算机(10)的彩色图像采集卡上。
搜索关键词: 一种 苹果 表面 缺陷 检测 系统 方法
【主权项】:
一种苹果表面缺陷检测系统,其特征在于,所述系统包括:传送装置(1),位于传送装置正上方的光照箱(2)所述光照箱(2);所述光照箱(2)内部下方安装有可见/近红外复合LED光源装置(3),内部上方正中央安装有点阵近红外结构光投射器(7),所述点阵近红外结构光投射器(7)一侧安装有黑白工业相机(4)和彩色工业相机(6);所述黑白工业相机(4)通过电缆连接到计算机(10)的近红外图像采集卡(8)上,所述彩色工业相机(6)通过电缆连接到计算机(10)的彩色图像采集卡上。
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