[发明专利]一种电容触摸屏装置缺陷检测方法有效
| 申请号： | 201210312666.1 | 申请日： | 2012-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN102981059A | 公开（公告）日： | 2013-03-20 |
| 发明（设计）人： | 张晋芳;刘宏辉 | 申请（专利权）人： | 北京集创北方科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26;G01R31/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100088 北京市海淀区北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种电容触摸屏装置缺陷检测的方法，该装置包括电容屏、电容屏控制芯片，本发明的检测方法为：先依次驱动所有驱动线Drive Line，每次驱动一根驱动线，量取每根驱动线和感测线之间的互电容值作为基准，再改变同时驱动的驱动线根数，依次驱动所有驱动线，如每次驱动2根驱动线，再次量取驱动线和感测线之间的互电容值，根据两次测量值之间的差值来判断是否有缺陷存在。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电容 触摸屏 装置 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种电容触摸屏装置缺陷检测的方法，所述装置包含电容屏、电容屏控制芯片，所述电容屏上设置有多根交叉放置的驱动线Drive Line和感测线Sense Line，其特征在于，先每次驱动一行驱动线依次驱动所有驱动线，得到互电容值测量矩阵，再以同时驱动i行驱动线的方式依次驱动所有驱动线，得到新的互电容值测量矩阵，i为小于驱动线行数的自然数，根据两次测量结果的差值变化情况来判断相应电容是否有缺陷存在。
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