[发明专利]增大测试信号频率的方法以及测试信号产生设备无效
| 申请号： | 201210313047.4 | 申请日： | 2012-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN102798814A | 公开（公告）日： | 2012-11-28 |
| 发明（设计）人： | 王磊 | 申请（专利权）人： | 上海宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/28 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 郑玮 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种增大测试信号频率的方法以及测试信号产生设备。根据本发明的增大测试信号频率的方法包括：第一步骤：利用测试机的第一输出通道来产生第一初始测试信号；第二步骤：利用测试机的第二输出通道来产生第二初始测试信号，其中，所述第一初始测试信号的高电平的持续期处于所述第二初始测试信号的低电平的持续期内，并且所述第二初始测试信号的高电平的持续期处于所述第一初始测试信号的低电平的持续期内；初始测试信号组合步骤：将所述第一初始测试信号和所述第二初始测试信号组合以产生最终测试信号，其中，当所述第一初始测试信号和所述第二初始测试信号之一为高电平时，在相应持续期内最终测试信号为高电平。 | ||
| 搜索关键词： | 增大 测试 信号 频率 方法 以及 产生 设备 | ||
【主权项】：
一种增大测试信号频率的方法，其特征在于包括：第一步骤：利用测试机的第一输出通道来产生第一初始测试信号；第二步骤：利用测试机的第二输出通道来产生第二初始测试信号，其中，所述第一初始测试信号的高电平的持续期处于所述第二初始测试信号的低电平的持续期内，并且所述第二初始测试信号的高电平的持续期处于所述第一初始测试信号的低电平的持续期内；初始测试信号组合步骤：将所述第一初始测试信号和所述第二初始测试信号组合以产生最终测试信号，其中，当所述第一初始测试信号和所述第二初始测试信号之一为高电平时，在相应持续期内最终测试信号为高电平。
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