[发明专利]一种固态电化学发光检测三聚氰胺的方法无效

专利信息
申请号: 201210324102.X 申请日: 2012-09-04
公开(公告)号: CN102854183A 公开(公告)日: 2013-01-02
发明(设计)人: 贾能勤;曹宏梅;胡晓青 申请(专利权)人: 上海师范大学
主分类号: G01N21/76 分类号: G01N21/76
代理公司: 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 31227 代理人: 张荣义
地址: 200234 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种基于介孔二氧化硅纳米球/三联吡啶钌固态电化学发光检测三聚氰胺的方法,其特征在于包括以下步骤:a介孔二氧化硅纳米球的制备,b介孔二氧化硅纳米球/三联吡啶钌/Nafion修饰电极的制备,c用介孔二氧化硅纳米球/三联吡啶钌/Nafion修饰电极对三聚氰胺的检测和d用电致发光检测器采集电化学发光检测仪产生的光信号,再经计算机数据处理后得到三聚氰胺样品的含量。本发明的基于介孔二氧化硅纳米球/三联吡啶钌固态电化学发光检测三聚氰胺的方法具有介孔硅(mSiO2)材料具有大比表面积和孔隙体积,以及介孔二氧化硅纳米球/三联吡啶钌/Nafion修饰电极能有效地用于电致化学发光(ECL)检测三聚氰胺的优点。
搜索关键词: 一种 固态 电化学 发光 检测 三聚 方法
【主权项】:
一种基于介孔二氧化硅纳米球/三联吡啶钌固态电化学发光检测三聚氰胺的方法,其特征在于包括以下步骤:a、介孔二氧化硅纳米球/三联吡啶钌/Nafion修饰电极的制备,包含以下步骤:(1)用2#和5#金相砂纸抛光打磨玻碳电极,再用0.3和0.05μm的Al2O3抛光粉抛光,冲洗去表面污物;(2)依次在体积比为1:1的HNO3溶液、无水乙醇、二次蒸馏水中分别超声1~2分钟,最后将处理好的电极用高纯N2吹干;(3)取6~10μL2mgmL‑1的介孔二氧化硅纳米球溶液滴到处理好的玻碳电极上,室温下自然干燥;(4)将3~6μL 0.5wt%的Nafion溶液滴加到经步骤(3)处理的玻碳电极表面,然后浸到1.0×10‑3M六水合三联吡啶钌溶液中制备成修饰电极;b、用介孔二氧化硅纳米球/三联吡啶钌/Nafion修饰电极对三聚氰胺的检测在电化学发光检测仪上,使用介孔二氧化硅纳米球/三联吡啶钌/Nafion修饰电极进行定量检测三聚氰胺的含量,所述修饰电极在使用之前,使用二次蒸馏水冲洗,在pH值7~12的0.1M的磷酸盐缓冲溶液进行循环伏安扫描,所述修饰电极扫描电位范围0~+1.25V;c、用电致发光检测器采集电化学发光检测仪产生的光信号,再经计算机数据处理后得到三聚氰胺样品的含量。
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