[发明专利]存储器芯片及其操作方法有效
| 申请号： | 201210330627.4 | 申请日： | 2009-05-27 |
| 公开（公告）号： | CN102945684A | 公开（公告）日： | 2013-02-27 |
| 发明（设计）人： | 张坤龙;洪俊雄;余传英;李俊毅 | 申请（专利权）人： | 旺宏电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/02 | 分类号： | G11C29/02 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 任岩 |
| 地址： | 中国台湾新竹*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种存储器芯片及其操作方法。存储器芯片包括多个焊垫，该方法包括：接收一测试指令；根据该测试指令由该多个焊垫输出多个第一测试信号，其中任意两实体相邻的该多个焊垫所对应的该多个第一测试信号是彼此互补的；以及根据该测试指令，接着该多个第一测试信号之后由该多个焊垫输出多个第二测试信号，其中对应各该多个焊垫的该第一测试信号以及该第二测试信号是彼此互补的。利用本发明，可以有效地简化存储器芯片的测试程序。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 芯片 及其 操作方法 | ||
【主权项】：
一种存储器芯片的操作方法，该存储器芯片包括多个焊垫，其特征在于，该方法包括：接收一测试指令；根据该测试指令由该多个焊垫输出多个第一测试信号，其中任意两实体相邻的该多个焊垫所对应的该多个第一测试信号是彼此互补的；以及根据该测试指令，接着该多个第一测试信号之后由该多个焊垫输出多个第二测试信号，其中对应各该多个焊垫的该第一测试信号以及该第二测试信号是彼此互补的。
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