[发明专利]基于异质结构吸收、倍增层分离GaN基雪崩光电探测器无效

专利信息
申请号: 201210333832.6 申请日: 2012-09-11
公开(公告)号: CN102820367A 公开(公告)日: 2012-12-12
发明(设计)人: 江灏;张文乐 申请(专利权)人: 中山大学
主分类号: H01L31/107 分类号: H01L31/107;H01L31/0304
代理公司: 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 代理人: 禹小明;林伟斌
地址: 510275 *** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种光电探测器,尤其涉及一种基于异质结构吸收、倍增层分离GaN基雪崩光电探测器,包括依次层叠的衬底、缓冲层、n型掺杂AlxInyGa1-x-yN层、Alx1Iny1Ga1-x1-y1N吸收层、Alx2Iny2Ga1-x2-y2N缓变层以及n型Alx3Iny3Ga1-x3-y3N倍增层。本发明选用n型Alx3Iny3Ga1-x3-y3N作为倍增层,避免了GaN基雪崩光电探测器制作中采用GaN基材料p型掺杂和背入射方式所带来的不利因素,以异质结构和正入射方式实现雪崩光电探测器的吸收n型Alx3Iny3Ga1-x3-y3N倍增层分离和单载流子触发雪崩,进而实现低噪声、高响应速度、高增益的光电探测。
搜索关键词: 基于 结构 吸收 倍增 分离 gan 雪崩 光电 探测器
【主权项】:
一种基于异质结构吸收、倍增层分离GaN基雪崩光电探测器,其特征在于:包括依次层叠的衬底、缓冲层、n型掺杂AlxInyGa1‑x‑yN层、Alx1Iny1Ga1‑x1‑y1N吸收层、Alx2Iny2Ga1‑x2‑y2N缓变层以及n型Alx3Iny3Ga1‑x3‑y3N倍增层。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中山大学,未经中山大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210333832.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top