[发明专利]超声探头几何参数的校正方法和装置及系统有效
| 申请号： | 201210339675.X | 申请日： | 2012-09-14 |
| 公开（公告）号： | CN102871685A | 公开（公告）日： | 2013-01-16 |
| 发明（设计）人： | 吴方刚 | 申请（专利权）人： | 飞依诺科技（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | A61B8/00 | 分类号： | A61B8/00 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 陈振 |
| 地址： | 215123 江苏省苏州市苏州工*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种超声探头几何参数的校正方法和装置及系统。该方法包括如下步骤：在超声系统中设置感兴趣区域为发射焦区，读取探头的待校正几何参数列表R；将各几何参数应用于发射和接收的波束合成，采集几何参数对应的感兴趣区域内的I、Q数据，并对I、Q数据求幅度，对感兴趣区域内的幅度数据做二维傅里叶变换；对感兴趣区域截止频率半径范围[D1，D2]内的频谱能量求和，得到几何参数列表R对应的得到能量值列表Q；在能量值列表Q中查找幅度最大的能量值对应的几何参数，作为所述探头校正后的最优几何参数，并将该最优几何参数作为所述探头的几何参数应用于所述超声成像系统后续的超声成像。其提高了超声图像质量。 | ||
| 搜索关键词： | 超声 探头 几何 参数 校正 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
一种超声探头几何参数的校正方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤S100，在超声探头设置在超声成像系统后，在超声系统中设置感兴趣区域为发射焦区，读取探头的待校正几何参数列表R；步骤S200，依次读取几何参数列表R并将各几何参数应用于发射和接收的波束合成，采集几何参数对应的感兴趣区域内的I、Q数据，并对I、Q数据求幅度，对感兴趣区域内的幅度数据做二维傅里叶变换；步骤S300，对感兴趣区域截止频率半径范围[D1，D2]内的频谱能量求和几何参数列表R对应的得到能量值列表Q；步骤S400，在能量值列表Q中查找幅度最大的能量值对应的几何参数，作为所述探头校正后的最优几何参数，并将该最优几何参数作为所述探头的几何参数应用于所述超声成像系统后续的超声成像。
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