[发明专利]用于CT 系统的X 射线辐射检测器

摘要

本发明涉及一种X射线辐射检测器，特别是用于CT系统的X射线辐射检测器，其至少具有检测用的半导体材料，优选化合物半导体，以及在半导体材料（HL）和接触材料（KM）之间的至少一个欧姆接触，其中半导体材料（HL）和接触材料（KM）分别具有载流子逸出功（WHL,WKM）。本发明的特征在于，在半导体材料（HL）和接触材料（KM）之间插入由中间材料（Z）组成的中间层，其中中间材料（Z）的逸出功（WZ）位于半导体材料（HL）的逸出功（WHL）和接触材料（KM）的逸出功（WKM）之间。此外，本发明涉及一种CT系统，其中使用了X射线辐射检测器，其有利地具有至少一个根据本发明的理想的欧姆接触。

主权项

一种直接转换X射线辐射检测器，特别是用于CT系统的直接转换X射线辐射检测器，其至少具有：1.1.检测用的半导体材料，优选化合物半导体，以及1.2.在半导体材料（HL）和接触材料（KM）之间的至少一个欧姆接触，其中1.3.所述半导体材料（HL）和所述接触材料（KM）分别具有载流子逸出功（WHL,WKM），其特征在于，1.4.在所述半导体材料（HL）和接触材料（KM）之间插入由中间材料（Z）组成的中间层，其中所述中间材料（Z）的逸出功（WZ）位于所述半导体材料（HL）的逸出功（WHL）和所述接触材料（KM）的逸出功（WKM）之间。