[发明专利]一种SRAM型FPGA应用验证系统及应用验证方法有效

专利信息
申请号: 201210355327.1 申请日: 2012-09-21
公开(公告)号: CN102890234A 公开(公告)日: 2013-01-23
发明(设计)人: 陈少磊;王文炎;张洪伟;张磊;孙明;江理东 申请(专利权)人: 中国空间技术研究院
主分类号: G01R31/317 分类号: G01R31/317;G01R31/3181
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 安丽
地址: 100094 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种SRAM型FPGA应用验证系统及应用验证方法,验证系统包括PC机、单片机、控制FPGA、可控时钟单元、可控电源单元、温度数据采集单元、电压电流数据采集单元和被测FPGA配置单元,该系统实现了对被测FPGA芯片各种功能的集成验证,基于该验证系统还有应用验证方法,验证方法包括针对FPGA芯片的基本功能应用验证、电源适应性应用验证、表面温度动态应用验证和动态功耗应用验证等四方面的功能验证。本发明可根据FPGA器件应用验证的需要,随时对验证项目或方法进行调整和测试,对于SRAM型FPGA的应用验证具有重要意义,并且,本发明能够方便的对不同生产厂的器件功能性能进行比对测试。
搜索关键词: 一种 sram fpga 应用 验证 系统 方法
【主权项】:
一种SRAM型FPGA应用验证系统,其特征在于包括PC机、单片机、控制FPGA、可控时钟单元、可控电源单元、温度数据采集单元、电压电流数据采集单元和被测FPGA配置单元;PC机根据预设的被测FPGA配置文件,通过被测FPGA配置单元对被测FPGA芯片进行配置,PC机还发送控制指令给单片机,经过单片机转换格式之后送入控制FPGA之中,控制FPGA根据接收到的控制指令对被测FPGA芯片的工作条件进行调整,即:控制FPGA通过可控时钟单元调整被测FPGA芯片的时钟输入以及控制FPGA通过可控电源单元调整被测FPGA芯片的供电电压;所述被测FPGA芯片为SRAM型FPGA;控制FPGA直接采集被测FPGA芯片的I/O输出信号,温度数据采集单元采集被测FPGA芯片的表面温度并且输出给控制FPGA,电压电流数据采集单元采集被测FPGA芯片的输出驱动电压、内核电压、输出驱动电流和内核电流,并且将结果输出到控制FPGA之中,控制FPGA将采集到的被测FPGA芯片的I/O输出、表面温度数据、输出驱动电压、内核电压、输出驱动电流和内核电流通过单片机发送给PC机进行显示。
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