[发明专利]一种用于单粒子试验的通用芯片保护装置无效
| 申请号： | 201210355697.5 | 申请日： | 2012-09-21 |
| 公开（公告）号： | CN102901921A | 公开（公告）日： | 2013-01-30 |
| 发明（设计）人： | 于庆奎;罗磊;张大宇;李鹏伟;张磊 | 申请（专利权）人： | 中国空间技术研究院 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 | 代理人： | 王勇;王博 |
| 地址： | 100101*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于单粒子试验芯片的通用保护装置，包括：具有通孔的盖板，其形状被构造成适于盖住芯片的外围封装，并适于通过所述通孔露出芯片，且芯片并不通过所述通孔凸出于所述盖板之外，盖板中具有多处厚度变薄部分，该厚度变薄部分的延伸方向与盖板的边沿平行，该厚度变薄部分用于使盖板在该部分处断裂；盖帽，适于盖住所述盖板的通孔。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 粒子 试验 通用 芯片 保护装置 | ||
【主权项】：
一种通用芯片保护装置，包括：具有通孔的盖板，其形状被构造成适于盖住芯片的外围封装，并适于通过所述通孔露出芯片，且芯片并不通过所述通孔凸出于所述盖板之外，盖板中具有多处厚度变薄部分，该厚度变薄部分的延伸方向与盖板的边沿平行，该厚度变薄部分用于使盖板在该部分处断裂；盖帽，适于盖住所述盖板的通孔。
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