[发明专利]一种用于铜互连的合金抗铜扩散阻挡层及其制造方法无效
申请号: | 201210356083.9 | 申请日: | 2012-09-24 |
公开(公告)号: | CN102881677A | 公开(公告)日: | 2013-01-16 |
发明(设计)人: | 孙清清;房润辰;张卫;王鹏飞;周鹏 | 申请(专利权)人: | 复旦大学 |
主分类号: | H01L23/532 | 分类号: | H01L23/532;H01L21/768 |
代理公司: | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人: | 陆飞;盛志范 |
地址: | 200433 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明属于集成电路技术领域,具体涉及一种用于铜互连的新型合金抗铜扩散阻挡层及其制造方法。本发明使用原子层淀积工艺生长合金薄膜,所得到的合金抗铜扩散阻挡层的一致性和致密性好,可以有效阻止铜在介质中的扩散,而且合金与铜的粘附性好,不需要生长一层籽晶铜就可以直接电镀金属铜,工艺简单可行,有望在未来铜互连的抗铜扩散阻挡层的制造中得到应用。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 互连 合金 扩散 阻挡 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种用于铜互连的抗铜扩散阻挡层,其特征在于在合金抗铜扩散阻挡层中,所述的合金为钴钌合金、钌钽合金、钴钽合金、钌钨合金或者为钨钽合金。
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