[发明专利]低漏电的低压二极管芯片及其制备方法有效
申请号: | 201210361524.4 | 申请日: | 2012-09-25 |
公开(公告)号: | CN102842579A | 公开(公告)日: | 2012-12-26 |
发明(设计)人: | 张常军;王平;周琼琼;刘旺;李志栓 | 申请(专利权)人: | 杭州士兰集成电路有限公司 |
主分类号: | H01L27/06 | 分类号: | H01L27/06;H01L29/06;H01L29/41;H01L21/77 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 郑玮 |
地址: | 310018 浙江省杭州市杭州*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明揭示了一种低漏电的低压二极管芯片,所述低漏电的低压二极管芯片包括:衬底;外延层,设置于所述衬底的上表面,所述外延层具有高压二极管区、三极管区以及用于隔绝所述高压二极管区和三极管区的隔离,所述高压二极管区具有第一极和第二极,所述三极管区具有发射极、基极和集电极,所述第一极与所述发射极电相连,所述第二极与所述集电极电相连;以及第一电极和第二电极。本发明还揭示了该低漏电的低压二极管芯片的制备方法,该方法包括:提供第一导电类型的衬底;所述衬底的上表面制备外延层;制备第一电极和第二电极。本发明的低漏电的低压二极管芯片,能够使得该低漏电的低压二极管芯片在施加反向电压时,反向漏电流达到纳安级。 | ||
搜索关键词: | 漏电 低压 二极管 芯片 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种低漏电的低压二极管芯片,包括:第一导电类型的衬底;外延层,设置于所述衬底的上表面,所述外延层具有高压二极管区、三极管区以及用于隔绝所述高压二极管区和三极管区的第一导电类型的隔离,所述隔离的下表面接触所述衬底,所述高压二极管区具有第一极和第二极,所述三极管区具有发射极、基极和集电极,所述发射极与基极之间的击穿电压大于等于所述外延层材料的最低雪崩击穿电压,所述发射极和集电极的击穿电压小于等于所述外延层材料的最高隧道击穿电压,所述高压二极管区的第一极与所述三极管区的发射极电相连,所述高压二极管区的第二极与所述三极管区的集电极电相连;以及第一电极和第二电极,所述第一电极与所述高压二极管区的第一极和所述三极管区的发射极电相连,所述第二电极与所述高压二极管区的第二极和所述三极管区的集电极电相连。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的