[发明专利]用于确定X 射线阳极的磨损的方法和装置无效

专利信息
申请号: 201210363881.4 申请日: 2012-09-26
公开(公告)号: CN103037607A 公开(公告)日: 2013-04-10
发明(设计)人: M.格拉斯拉克 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: H05G1/26 分类号: H05G1/26;H01J35/10
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 谢强
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及用于确定以阳极盘(11)构成的X射线阳极(3)的磨损的一种方法和一种装置。在此,对于表征了通过取决于在借助X射线阳极(3)所产生的辐射(70,71,72,73)和阳极盘(11)之间的角度所影响的特征的参数,确定参考值(I_ref(Heel))。在特定的运行持续时间之后重新对于参数确定一个值(I(Heel))。通过将所确定的参数值(I(Heel))与参考值(I_ref(Heel))进行比较且将参数值(I(Heel))与参考值(I_ref(Heel))的偏差与阳极(3)的磨损状态相关联,确定磨损。本发明允许基本上不借助于附加的设备来监测阳极(3)的老化。
搜索关键词: 用于 确定 射线 阳极 磨损 方法 装置
【主权项】:
一种用于确定以阳极盘(11)构成的X射线阳极(3)的磨损的方法,所述方法包括:‑对于表征了通过取决于在借助所述X射线阳极(3)所产生的辐射(70,71,72,73)和阳极盘(11)之间的角度所影响的特征的参数,确定参考值(I_ref(Heel)),‑在所述阳极(3)的特定的运行持续时间之后,对于参数确定一个值(I(Heel)),‑将所确定的参数值(I(Heel))与所述参考值(I_ref(Heel))进行比较,和‑将所述参数值(I(Heel))与参考值(I_ref(Heel))的偏差与所述阳极(3)的磨损状态相关联。
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