[发明专利]一种数字集成电路的测试方法有效
| 申请号： | 201210364697.1 | 申请日： | 2012-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN102879731A | 公开（公告）日： | 2013-01-16 |
| 发明（设计）人： | 向东;随文杰;陈振 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 张大威 |
| 地址： | 100084 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提出一种数字集成电路的测试方法，包括：A、获取所有测试路径以组成第一测试路径集合；B、从第一测试路径集合中选择满足第一条件的所有测试路径并复制到第二测试路径集合中；C、从第二测试路径集合中选择扇出个数最多的第一测试路径，并计算影响锥和与第一测试路径相关联的测试向量；D、选择标记路径；E、判断标记路径是否满足压缩条件；F、如果满足则生成测试对，并对测试向量进行更新；G、如果不满足则重复执行步骤C至F直至第二测试路径集合为空时得到更新后的最终测试向量。根据本发明的实施例具有测试时间短、测试效率高的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 数字集成电路 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种数字集成电路的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：A、从被测电路中获取所有测试路径以组成第一测试路径集合；B、从所述第一测试路径集合中选择满足第一条件的所有测试路径并复制到第二测试路径集合中；C、从所述第二测试路径集合中选择扇出个数最多的第一测试路径，并计算影响锥和与所述第一测试路径相关联的测试向量，并从所述第一和第二测试路径集合中删除所述第一测试路径；D、如果所述第一测试路径为多个，则从所述第一测试路径中选择与所述影响锥重合度最小的路径作为标记路径，否则将所述第一测试路径作为标记路径；E、判断所述标记路径是否满足压缩条件；F、如果所述标记路径满足所述压缩条件，则生成所述第一测试路径的测试对，并根据所述测试对对对应的测试向量进行更新；G、如果所述标记路径不满足所述压缩条件，则重复执行步骤C至步骤F直至所述第二测试路径集合为空时，得到更新后的最终测试向量；以及H、根据所述最终测试向量对所述被测电路进行故障模拟以检测故障路径，并在第一测试路径集合和所述第二测试路径集合中删除相应的可被故障模拟检测到的路径。
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