[发明专利]真空灭弧室金属化检测方法及其设备有效
| 申请号： | 201210365724.7 | 申请日： | 2012-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN102841015A | 公开（公告）日： | 2012-12-26 |
| 发明（设计）人： | 杨云 | 申请（专利权）人： | 中国振华电子集团宇光电工有限公司（国营第七七一厂） |
| 主分类号： | G01N3/08 | 分类号： | G01N3/08 |
| 代理公司： | 北京联创佳为专利事务所(普通合伙) 11362 | 代理人： | 王娟;郭防 |
| 地址： | 550018 贵*** | 国省代码： | 贵州;52 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种真空灭弧室金属化检测方法及其设备，其特征在于：在真空灭弧室陶瓷壳金属化完成后，利用专用抗拉夹具将拉杆焊接在瓷壳金属化部分，然后使用拉力测试机对瓷壳金属化程度进行拉断检测。本发明简化了陶瓷在进行金属化程度测试时破坏陶瓷外壳的步奏，避免了破坏瓷壳时所产生的噪音污染和瓷壳崩裂时所产生的危险，采用新的检测步奏使得检测更加准确，数据搜集和处理简便有效，在节约了生产人力资源的同时也提高了试验人员的工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 真空 灭弧室 金属化 检测 方法 及其 设备 | ||
【主权项】：
一种真空灭弧室金属化检测方法，其特征在于：在真空灭弧室陶瓷壳金属化完成后，利用专用抗拉夹具将拉杆焊接在瓷壳金属化部分，然后使用拉力测试机对瓷壳金属化程度进行拉断检测。
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