[发明专利]一种N型纵向高耐压的横向双扩散金属氧化物半导体晶体管无效

专利信息
申请号: 201210366193.3 申请日: 2012-09-27
公开(公告)号: CN102867845A 公开(公告)日: 2013-01-09
发明(设计)人: 祝靖;林吉勇;杨卓;钱钦松;孙伟锋;陆生礼;时龙兴 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/78
代理公司: 南京天翼专利代理有限责任公司 32112 代理人: 黄明哲;朱芳雄
地址: 214135 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种N型纵向高耐压的横向双扩散金属氧化物半导体晶体管,包括:P型硅衬底,在P型硅衬底上设有N-漂移区及P型体区,且P型硅衬底的上表面为N-漂移区及P型体区覆盖,在P型体区上方设有N型源区、P型体接触区及栅氧化层,在N-漂移区上方设有N型缓冲层,在N型缓冲层上方设有N型漏区,在栅氧化层上方设有多晶硅栅,在N型源区、P型体接触区、多晶硅栅、N-漂移区、N型漏区上方设有场氧化层,在N型源区及P型体接触区上接有穿通场氧化层的第一金属引线,多晶硅栅接有穿通场氧化层的第二金属引线,N型漏区接有穿通场氧化层的第三金属引线,其特征在于,在P型硅衬底上设有超结结构,超结结构由连接漏区及衬底方向相间分布的N型区和P型区构成。
搜索关键词: 一种 纵向 耐压 横向 扩散 金属 氧化物 半导体 晶体管
【主权项】:
一种N型纵向高耐压的横向双扩散金属氧化物半导体晶体管,包括:P型硅衬底(1),在P型硅衬底(1)上设有N‑漂移区(2)及P型体区(3),且P型硅衬底(1)的上表面为N‑漂移区(2)及P型体区(3)覆盖,在P型体区(3)上方设有N型源区(4)、P型体接触区(5)及栅氧化层(8),在N‑漂移区(2)上方设有N型缓冲层(13),在N型缓冲层(13)上方设有N型漏区(12),在栅氧化层(8)上方设有多晶硅栅(9),在N型源区(4)、P型体接触区(5)、多晶硅栅(9)、N‑漂移区(2)、N型漏区(12)上方设有场氧化层(6),在N型源区(4)及P型体接触区(5)上接有穿通场氧化层(6)的第一金属引线(7),多晶硅栅(9)接有穿通场氧化层(6)的第二金属引线(10),N型漏区接有穿通场氧化层(6)的第三金属引线(11),其特征在于,在P型硅衬底(1)上设有超结结构,超结结构由连接漏区及衬底方向相间分布的N型区(14)和P型区(15)构成。
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