[发明专利]用于减小路径损耗的方法和设备有效
| 申请号： | 201210367161.5 | 申请日： | 2012-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN103051390A | 公开（公告）日： | 2013-04-17 |
| 发明（设计）人： | J·G·尼科尔;M·帕斯科林尼;申志一 | 申请（专利权）人： | 苹果公司 |
| 主分类号： | H04B17/00 | 分类号： | H04B17/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 邹姗姗 |
| 地址： | 美国加*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明公开了用于减小路径损耗的方法和设备。测试站可以包括测试主机、测试单元和测试外壳。在产品测试期间，可以将至少具有第一天线和第二天线的被测设备（DUT）放置在测试外壳中。可以使用测试外壳内的测试天线来从测试单元向DUT传送射频测试信号。在测试第一天线的性能的第一时段中，可以将DUT定向在第一位置，使得第一天线与测试天线之间的路径损耗最小化。在测试第二天线的性能的第二时段中，可以将DUT定向在第二位置，使得第二天线与测试天线之间的路径损耗最小化。如果所收集的测试数据是令人满意的，则将DUT标记为通过的DUT。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 减小 路径 损耗 方法 设备 | ||
【主权项】：
一种用于使用测试站来测试被测产品设备的方法，所述被测产品设备至少包括第一天线结构和第二天线结构，其中，所述测试站包括测试外壳，所述方法包括：将所述被测产品设备耦合到所述测试外壳内的测试固定装置；在所述被测产品设备耦合到所述测试固定装置时，收集关于所述第一天线结构的测试测量，以确定所述第一天线结构是否满足与所述第一天线结构相关联的预定性能准则；以及在收集关于所述第一天线结构的测试测量之后并且在所述被测产品设备仍然耦合到所述测试固定装置时，收集关于第二天线结构的测试测量，以确定所述第二天线结构是否满足与所述第二天线结构相关联的预定性能准则。
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