[发明专利]用于制作镜头的晶圆级贴合方法有效
申请号: | 201210367894.9 | 申请日: | 2012-09-27 |
公开(公告)号: | CN102891155A | 公开(公告)日: | 2013-01-23 |
发明(设计)人: | 范世伦 | 申请(专利权)人: | 豪威科技(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;G02B7/02 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 郑玮 |
地址: | 201210 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种用于制作镜头的晶圆级贴合方法,包括:步骤1提供感应芯片晶圆和透镜晶圆,透镜晶圆和感应芯片晶圆分别包括阵列排布的透镜和感应芯片,每一感应芯片具有玻璃盖板,且感应芯片晶圆的感应芯片与透镜晶圆的透镜一一对应;步骤2对透镜晶圆的每个透镜的法兰距进行测量分析以分别获得每一透镜相对应的法兰距补偿参数;步骤3根据透镜晶圆的每个透镜的法兰距补偿参数,在与其对应的感应芯片晶圆的每个感应芯片上形成扁平膜;步骤4将形成有扁平膜的感应芯片晶圆与透镜晶圆对位贴合。本发明通过增加晶圆对位贴合形成的厚度来对透镜的法兰距进行补偿,降低单个透镜抓取贴合成本,并将晶圆级贴合运用于高端透镜中。 | ||
搜索关键词: | 用于 制作 镜头 晶圆级 贴合 方法 | ||
【主权项】:
一种用于制作镜头的晶圆级贴合方法,其特征在于,所述方法包括:步骤1:提供感应芯片晶圆和透镜晶圆,所述透镜晶圆包括阵列排布的透镜,所述感应芯片晶圆包括阵列排布的感应芯片,每一感应芯片具有玻璃盖板,且所述感应芯片晶圆的感应芯片与所述透镜晶圆的透镜一一对应;步骤2:对所述透镜晶圆的每个透镜的法兰距进行测量分析,以分别获得每一透镜相对应的法兰距补偿参数;步骤3:根据所述透镜晶圆的每个透镜的法兰距补偿参数,在与其对应的所述感应芯片晶圆的每个感应芯片上形成扁平膜;步骤4:将形成有扁平膜的所述感应芯片晶圆与所述透镜晶圆对位贴合。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
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