[发明专利]一种光强测试设备有效
| 申请号： | 201210376009.3 | 申请日： | 2012-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN102853905A | 公开（公告）日： | 2013-01-02 |
| 发明（设计）人： | 张弥 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J1/00 | 分类号： | G01J1/00 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 许静;赵爱军 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光强测试设备，为了解决现有技术中存在的无法对被测设备进行光强测试的问题，本发明实施例提供一种光强测试设备，光强测试设备包括光源和光强测试器，其中光源发射的光线经过第一光路，经被测设备反射后经过第二光路，光强测试器的光接收面位于第一光路之外且位于第二光路之上，由于通过光源和光强测试器采用反射的方式进行测试，从而实现光强测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 设备 | ||
【主权项】：
一种光强测试设备，其特征在于，光强测试设备包括光源和光强测试器，其中光源发射的光线经过第一光路，经被测设备反射后经过第二光路，光强测试器的光接收面位于第一光路之外，且能够接收第二光路上的光。
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