[发明专利]一种功率电子器件双面粘接结构及制备方法有效
申请号: | 201210381140.9 | 申请日: | 2012-10-09 |
公开(公告)号: | CN102915985A | 公开(公告)日: | 2013-02-06 |
发明(设计)人: | 梅云辉;连娇愿;陆国权;陈旭 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | H01L23/488 | 分类号: | H01L23/488;H01L21/60 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 王丽 |
地址: | 300072 天*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明公布了一种功率电子器件双面粘接结构及制备方法。双面粘接结构,在芯片与一侧基板之间设置有金属管层,金属管的数量大于等于2,金属管间的中心间距P大于金属管直径D,金属管长度L小于等于芯片尺寸;两块基板上涂刷的连接材料尺寸大于等于芯片尺寸。该方法是通过在芯片与一侧基板连接处加入银管层来实现。芯片与基板,芯片与银管以及银管与基板之间均采用纳米银焊膏粘接。由于芯片厚度不等造成的封装困难。加入银管层,使得芯片上的应力分布更加均匀;银管易于变形的特点,释放芯片工作过程中产生的应力,起到保护芯片的作用。芯片双面粘接基板结构可同时实现多芯片封装,及不等厚度芯片封装等,提高了结构的封装功率、热性能及可靠性。 | ||
搜索关键词: | 一种 功率 电子器件 双面 结构 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种功率电子器件双面粘接结构,其特征是在芯片与一侧基板之间设置有金属管层,金属管的数量大于等于2,金属管间的中心间距P大于金属管直径D,金属管长度L小于等于芯片尺寸;两块基板上涂刷的连接材料尺寸大于等于芯片尺寸。
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