[发明专利]发光二极管晶片的检测装置无效
| 申请号： | 201210381322.6 | 申请日： | 2012-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN103728120A | 公开（公告）日： | 2014-04-16 |
| 发明（设计）人： | 吴岱纬;蔡泰成;许国君;许寿文;李允立 | 申请（专利权）人： | 新世纪光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京中誉威圣知识产权代理有限公司 11279 | 代理人： | 董云海;彭晓玲 |
| 地址： | 中国台湾台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种发光二极管晶片的检测装置，其包含具聚光功能的透明载台、点测装置及光感测装置。透明载台包含入光面及出光面，入光面用以承载待测的复数个发光二极管晶片。点测装置包含二探针及一电源供应器，探针的二端分别电性连接复数个发光二极管晶片之一者及电源供应器，以令此发光二极管晶片发出复数道光线，且此复数道光线入射透明载台的入光面。光感测装置设于透明载台的出光面的一侧，用以接收通过透明载台的复数道光线。 | ||
| 搜索关键词： | 发光二极管 晶片 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种发光二极管晶片的检测装置，其特征在于，该检测装置至少包含：一具聚光功能的透明载台，该透明载台包含一入光面以及一出光面，该入光面用以承载待测的复数个发光二极管晶片；一点测装置，该点测装置包含二探针及一电源供应器，这些探针的二端分别电性连接这些发光二极管晶片之一者及该电源供应器，以令该发光二极管晶片发出复数道光线，这些光线是入射该透明载台的该入光面；以及一光感测装置，该光感测装置设于该透明载台的该出光面的一侧，用以接收通过该透明载台的这些光线。
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