[发明专利]触控点侦测方法有效

专利信息
申请号: 201210384774.X 申请日: 2012-10-11
公开(公告)号: CN102915150A 公开(公告)日: 2013-02-06
发明(设计)人: 康育齐;吴永智 申请(专利权)人: 友达光电股份有限公司
主分类号: G06F3/041 分类号: G06F3/041
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 梁挥;王颖
地址: 中国台湾新竹科*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种触控点侦测方法,其提供内有第一数量的预设电位特征的一组电位特征预设组合,并判断依某一特定方向排列的多个感测单元的感测电位特征排列结果,再根据判断这些感测单元的感测电位特征排列结果而设定触控点侦测的结果。
搜索关键词: 触控点 侦测 方法
【主权项】:
一种触控点侦测方法,其特征在于,包括:提供一电位特征预设组合,该电位特征预设组合包含一第一数量的多个预设电位特征;侦测得多个感测单元的多个感测电位特征;判断该多个感测电位特征中依一特定方向排列的多个连续感测单元的感测电位特征排列结果,包括:在该特定方向上依序取得该多个连续感测单元相对应的一第二数量的感测电位特征,其中该第一数量大于该第二数量;判断该第二数量的感测电位特征与该电位特征预设组合中位于相对应位置的该些预设电位特征是否相符;以及依照该特定方向,从此次所取的该些传感器感测单元中的第一个往后一第三数量开始,重复进行前述的感测电位特征取得及判断是否相符的操作,直到取得该特定方向上排列的所有需进行判断的该些感测单元的感测电位特征为止;以及根据判断该些感测单元的该第二数量感测电位特征排列结果而设定触控点侦测的结果。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于友达光电股份有限公司,未经友达光电股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210384774.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top