[发明专利]触控点侦测方法有效
申请号: | 201210384774.X | 申请日: | 2012-10-11 |
公开(公告)号: | CN102915150A | 公开(公告)日: | 2013-02-06 |
发明(设计)人: | 康育齐;吴永智 | 申请(专利权)人: | 友达光电股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 梁挥;王颖 |
地址: | 中国台湾新竹科*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种触控点侦测方法,其提供内有第一数量的预设电位特征的一组电位特征预设组合,并判断依某一特定方向排列的多个感测单元的感测电位特征排列结果,再根据判断这些感测单元的感测电位特征排列结果而设定触控点侦测的结果。 | ||
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【主权项】:
一种触控点侦测方法,其特征在于,包括:提供一电位特征预设组合,该电位特征预设组合包含一第一数量的多个预设电位特征;侦测得多个感测单元的多个感测电位特征;判断该多个感测电位特征中依一特定方向排列的多个连续感测单元的感测电位特征排列结果,包括:在该特定方向上依序取得该多个连续感测单元相对应的一第二数量的感测电位特征,其中该第一数量大于该第二数量;判断该第二数量的感测电位特征与该电位特征预设组合中位于相对应位置的该些预设电位特征是否相符;以及依照该特定方向,从此次所取的该些传感器感测单元中的第一个往后一第三数量开始,重复进行前述的感测电位特征取得及判断是否相符的操作,直到取得该特定方向上排列的所有需进行判断的该些感测单元的感测电位特征为止;以及根据判断该些感测单元的该第二数量感测电位特征排列结果而设定触控点侦测的结果。
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