[发明专利]在石英晶振测试系统中同时测量不同类型被测件的方法

摘要

本发明公开了一种在石英晶振测试系统中同时测量不同类型被测件的方法，主要解决现有系统不能同时测量普通及高稳晶振被测件的问题。其实现步骤是：①在石英晶振测试系统测量前，根据提示输入不同类型被测件信息；②在石英晶振测试系统测量后，按每隔1小时时间间隔测量不同类型被测件的相对平均频率偏差；③依据JJG180-2002检定规程测量普通晶振被测件的性能，所有测量数据均为有效数据；④依据JJG181-2005检定规程测量高稳晶振被测件的性能，提取高稳晶振被测件测量数据的有效测量数据，获得所需要的有用的测量数据。本发明具有测量效率高和节省测量设备的优点，可用于对普通及高稳晶振被测件的同时测量。

主权项

一种在石英晶振测试系统中同时测量不同类型被测件的方法，包括如下步骤：(1)石英晶振测试系统开始测量前，根据系统提示内容输入将要测量的不同类型被测件的相关信息，提示内容包括：送测单位、被测件名称、被测件型号、被测件编号、被测件生产商、被测件的频率标称值、被测件的测量依据、被测件预热时间；(2)将不同类型被测件输出频率的原始数据测量的时间间隔设置为1小时，石英晶振测试系统开始测量后，按每隔1小时的时间间隔测量不同类型被测件的相对平均频率偏差；(3)对于普通晶振被测件，依据《JJG180‑2002电子测量仪器内石英晶体振荡器检定规程》，测量普通晶振被测件的性能：(3a)普通晶振被测件在加电1小时后，将测量相对平均频率偏差的取样时间选为10s，每隔1小时测量1组，每组连续测得3个相对平均频率偏差，取3个相对平均频率偏差的平均值作为每组的测量结果，共测25组，得到25个测量数据；将测量数据代入到所述JJG180‑2002检定规程的相应公式中，计算出普通晶振被测件的开机特性及日频率波动，并根据日频率波动测量结果给出普通晶振被测件的频率准确度，该频率准确度比日频率波动低一个数量级；(3b)25个测量数据测量完成后，将普通晶振被测件断电，同时取25个测量数据中的第25个测量数据作为第一次测量结果，再对普通晶振被测件持续断电24小时；断电24小时后，给普通晶振被测件再次加电，加电1小时后，将测量相对平均频率偏差的取样时间选为10s，连续测得3个相对平均频率偏差，取3个相对平均频率偏差的平均值作为第二次测量结果；将两次测量结果数据代入到所述JJG180‑2002检定规程的相应公式中，计算出普通晶振被测件的频率复现性；(3c)在普通晶振被测件再次加电到2小时时，先测量其它测量通道上的被测件的相对平均频率偏差，然后将测量普通晶振被测件的相对平均频率偏差的取样时间选为1s，并连续测得101个相对平均频率偏差，再将101个相对平均频率偏差代入到所述JJG180‑2002检定规程的相应公式中，计算出普通晶振被测件的1s频率稳定度；(4)对于高稳晶振被测件，依据《JJG181‑2005石英晶体频率标准检定规程》，测量高稳晶振被测件的性能：(4a)高稳晶振被测件在加电1小时后，将测量相对平均频率偏差的取样时间选为10s，每隔1小时测量1组，每组连续测得3个相对平均频率偏差，取3个相对平均频率偏差的平均值作为每组的测量结果，共测T+168组，得到T+168个测量数据Ci，其相对应的测量时刻为i小时，i取1到T+168，T为高稳晶振被测件日老化率测量的预热时间数值，单位为小时；(4b)从测量数据Ci中提取有效测量数据Bj,j取1到15，T小时及其后每隔12小时的15个测量数据为有效测量数据：Bj＝C[T+(j‑1)×12]，其相对应的测量时刻：tj＝T+(jj‑1)×12；(4c)根据有效测量数据Bj对应的测量时刻与测量数据Ci对应的测量时刻存在T+(j‑1)×12＝i的关系，得到T+(j‑1)×12＝i×1，其中“×12”代表高稳晶振被测件的相对平均频率偏差的测量时间间隔为12小时，“×1”代表高稳晶振被测件的相对平均频率偏差的测量时间间隔为1小时，使高稳晶振被测件的相对平均频率偏差的测量时间间隔由12小时缩短到1小时；(4d)将有效测量数据及其相对应的测量时刻代入到所述JJG181‑2005检定规程的相应公式中，计算出高稳晶振被测件的拟合直线斜率、相关系数、残差均方根、日老化率及频率准确度；(4e)在高稳晶振被测件加电到T+169小时时，先测量其它测量通道上的被测件的相对平均频率偏差，然后将测量高稳晶振被测件的相对平均频率偏差的取样时间分别选择为1ms、10ms、100ms、1s及10s，并连续测得5组相对平均频率偏差，其中：前4组分别连续测得101个相对平均频率偏差，第5组连续测得51个相对平均频率偏差，再将5组测量数据分别代入到所述JJG181‑2005检定规程的相应公式中，计算出高稳晶振被测件的1ms、10ms、100ms、1s及10s的短期频率稳定度；