[发明专利]一种纳米颗粒测量装置及其测量方法

摘要

本发明公开了一种纳米颗粒测量装置及其测量方法，所述纳米颗粒测量装置包括水平设置的样品池，所述样品池的上方设有CCD显微镜，所述CCD显微镜和计算机相连，其中，所述样品池下方设有半导体激光器，所述半导体激光器和样品池呈10°～80°的倾斜角度设置。本发明提供的纳米颗粒测量装置及其测量方法，在CCD显微镜上增加半导体激光器，所述半导体激光器和样品池呈一定的倾斜角度设置，使得样品池内纳米颗粒在激光光束照射下产生动态散射光光点，依据爱因斯坦的布朗运动方程，从而测量几十纳米至几个纳米的颗粒粒径及其粒径分布，既能保证测量精度和稳定性，又能大大降低生产成本，且结构简单，易于推广使用。

主权项

一种纳米颗粒测量装置，包括水平设置的样品池(5)，所述样品池(5)的上方设有CCD显微镜(6)，所述CCD显微镜(6)和计算机(7)相连，其特征在于，所述样品池(5)下方设有半导体激光器(1)，所述半导体激光器(1)的光轴和样品池(5)呈10°～80°的倾斜角度设置。