[发明专利]一种检测纳米粒子的方法有效
申请号: | 201210391585.5 | 申请日: | 2012-10-12 |
公开(公告)号: | CN103728236A | 公开(公告)日: | 2014-04-16 |
发明(设计)人: | 颜晓梅;朱少彬 | 申请(专利权)人: | 厦门大学 |
主分类号: | G01N15/14 | 分类号: | G01N15/14 |
代理公司: | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人: | 王凤桐;周建秋 |
地址: | 361005 *** | 国省代码: | 福建;35 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种检测单个纳米粒子的方法,该方法包括如下步骤:(1)使用鞘液通过流体动力学聚焦将待测的样品液体压缩成样品液流;(2)向所述样品液流照射测量光,其中,所述样品液流中的单个纳米粒子接受测量光照射的时间为0.1-10毫秒;(3)将接受测量光照射的所述样品液流的区域定义为探测区,通过透镜成像系统收集由接受测量光照射的区域发出的光信号,使透镜成像系统所收集的光信号通过视场光阑以滤除探测区外的光信号并富集探测区的光信号;(4)将通过视场光阑富集得到的光信号进行光电信号转换。本发明能够实现对粒径为40-1000nm的低折射率纳米颗粒和粒径10-150nm纳米金颗粒的检测。 | ||
搜索关键词: | 一种 检测 纳米 粒子 方法 | ||
【主权项】:
一种检测纳米粒子的方法,该方法包括如下步骤:(1)使用鞘液通过流体动力学聚焦将待测的样品液体压缩成样品液流,其中,所述样品液流含有待检测的纳米粒子,且所述纳米粒子在所述样品液流中基本上相互隔开并基本上在同一直线上流动;(2)向所述样品液流照射测量光,其中,所述样品液流中的单个纳米粒子接受测量光照射的时间为0.1‑10毫秒,优选为0.2‑2毫秒;(3)将接受测量光照射的所述样品液流的区域定义为探测区,通过透镜成像系统收集由接受测量光照射的区域发出的光信号,使透镜成像系统所收集的光信号通过视场光阑以滤除探测区外的光信号并富集探测区的光信号;(4)将通过视场光阑富集得到的光信号进行光电信号转换,分别获取所述样品液流中的各个纳米粒子所发出的散射光和/或荧光的电信号;(5)根据所述电信号对所述纳米粒子进行定性和/或定量分析。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于厦门大学,未经厦门大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210391585.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。