[发明专利]晶体振荡电路的测试方法及测试装置有效
| 申请号： | 201210391704.7 | 申请日： | 2012-10-15 |
| 公开（公告）号： | CN103728549A | 公开（公告）日： | 2014-04-16 |
| 发明（设计）人： | 郑玲玲;袁俊;王亦农;徐四九 | 申请（专利权）人： | 上海海尔集成电路有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 刘芳 |
| 地址： | 200235 上海市徐汇区龙*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种晶体振荡电路的测试方法及测试装置。其中，该方法包括：采用至少一种模式，对所述晶体振荡电路中的反馈网络进行测试，获取所述反馈网络的反馈电阻阻值，对所述晶体振荡电路的输出端口的反向驱动力进行测试，获取反向驱动力参数值，并对所述晶体振荡电路中的基本运放电路的电压传输特性进行测试，获取电压传输特性参数值，其中，不同的模式用于对应不同外加时钟源；确定各模式下测试获得的反馈电阻阻值、反向驱动力参数值以及电压传输特性参数值是否均在对应的模式下的各参数取值的正常范围内；若是，则确定所述晶体振荡电路能够在与所述至少一种模式对应的外加时钟源下正常工作。 | ||
| 搜索关键词： | 晶体 振荡 电路 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种晶体振荡电路的测试方法，其特征在于，包括：采用至少一种模式，对所述晶体振荡电路中的反馈网络进行测试，获取所述反馈网络的反馈电阻阻值，对所述晶体振荡电路的输出端口的反向驱动力进行测试，获取反向驱动力参数值，并对所述晶体振荡电路中的基本运放电路的电压传输特性进行测试，获取电压传输特性参数值，其中，不同的模式用于对应外加不同的时钟源；确定各模式下测试获得的反馈电阻阻值、反向驱动力参数值以及电压传输特性参数值是否均在对应的模式下的各参数取值的正常范围内；若是，则确定所述晶体振荡电路能够在所述至少一种模式下正常工作。
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