[发明专利]100毫米的高纯半绝缘单晶碳化硅晶片有效

专利信息
申请号: 201210395316.6 申请日: 2005-06-14
公开(公告)号: CN102899723A 公开(公告)日: 2013-01-30
发明(设计)人: J·R·杰尼 申请(专利权)人: 克里公司
主分类号: C30B29/36 分类号: C30B29/36;C30B23/00;C30B33/00;B24B7/22;B24B9/06
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 李跃龙
地址: 美国北*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明公开了单一多型体的单晶碳化硅晶片,其直径大于75毫米,并小于125毫米,电阻率大于10000ohm-cm,微管密度小于200cm-2,并且浅能级掺杂剂的总浓度小于5E16cm-3。
搜索关键词: 100 毫米 高纯 绝缘 碳化硅 晶片
【主权项】:
制备高品质块状碳化硅单晶的方法,该方法包括在生长前对晶种的两面进行研磨。
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