[发明专利]存储器的可靠性测试方法有效
| 申请号： | 201210403218.2 | 申请日： | 2012-10-19 |
| 公开（公告）号： | CN102903395A | 公开（公告）日： | 2013-01-30 |
| 发明（设计）人： | 钱亮 | 申请（专利权）人： | 上海宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 骆苏华 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种存储器的可靠性测试方法，包括：对存储器进行第一测试，判断第一测试结果是否大于或等于第一判断标准；如果第一测试结果大于或等于第一判断标准，对存储器设置第一标识；如果第一测试结果小于第一判断标准，对存储器设置第二标识；对存储器进行老化处理；对经过老化处理的存储器进行第二测试，判断第二测试结果是否大于或等于第二判断标准，第二判断标准低于第一判断标准；如果第二测试结果大于或等于第二判断标准，则存储器为良品；如果第二测试结果小于第二判断标准，判断存储器的标识类型，如果存储器设置的是第一标识，则存储器为差品；如果存储器设置的第二标识，则存储器为良品。本发明对数据保持力的判断具有较高的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 可靠性 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种存储器的可靠性测试方法，其特征在于，包括：对存储器进行第一测试，判断存储器的第一测试结果是否大于或等于第一判断标准；如果存储器的第一测试结果大于或等于所述第一判断标准，对所述存储器设置第一标识；如果存储器的第一测试结果小于所述第一判断标准，对所述存储器设置第二标识；对所述存储器进行老化处理；对经过老化处理的存储器进行第二测试，判断存储器的第二测试结果是否大于或等于第二判断标准，所述第二判断标准低于所述第一判断标准；如果存储器的第二测试结果大于或等于所述第二判断标准，则所述存储器为良品；如果存储器的第二测试结果小于所述第二判断标准，判断所述存储器的标识类型，如果所述存储器设置的是第一标识，则所述存储器为差品；如果所述存储器设置的第二标识，则所述存储器为良品。
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