[发明专利]一种基于体硅材料的无结硅纳米线晶体管及其制备方法无效

专利信息
申请号: 201210408617.8 申请日: 2012-10-24
公开(公告)号: CN102916048A 公开(公告)日: 2013-02-06
发明(设计)人: 李小明;韩伟华;张严波;颜伟;杜彦东;陈燕坤;杨富华 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/10;H01L21/336
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种基于体硅材料的无结硅纳米线晶体管及其制备方法。该无结硅纳米线晶体管包括:一体硅衬底,在体硅衬底上制作一P型或N型掺杂层,在该P型或N型掺杂层上制作一掺杂类型与之相反的N型或P型掺杂层,不同类型的掺杂层构成PN结起到电学隔离的作用;在N型或P型掺杂层上制作晶体管的源区、漏区和硅纳米线,硅纳米线连接源区与漏区构成导电沟道;一绝缘介质层制作在整个硅纳米线以及源、漏区表面;一多晶硅栅条,制作在源区与漏区之间,并完全包裹硅纳米线;一漏电极,该漏电极制作在硅的漏区上;一源电极,该源电极制作在硅的源区上;一栅电极,该栅电极制作在多晶硅栅条上。利用本发明,能够在体硅衬底上实现无结硅纳米线晶体管。
搜索关键词: 一种 基于 材料 无结硅 纳米 晶体管 及其 制备 方法
【主权项】:
一种基于体硅材料的无结硅纳米线晶体管,其特征在于,包括:一体硅衬底;一第一掺杂层,该第一掺杂层通过离子注入形成于该体硅衬底的上部,且该第一掺杂层的掺杂类型是P型或N型;一第二掺杂层,该第二掺杂层通过离子注入形成于该体硅衬底的上部,且位于该第一掺杂层之上,该第二掺杂层的掺杂类型与该第一掺杂层的掺杂类型相反;一源区、一漏区和一硅纳米线,该源区、漏区和硅纳米线制作于该第二掺杂层上;一绝缘介质层,该绝缘介质层制作于该硅纳米线以及源区、漏区的表面;一多晶硅栅条,该多晶硅栅条制作于该源区与漏区之间,并完全包裹该硅纳米线;一漏电极,该漏电极制作于该漏区上;一源电极,该源电极制作于该源区上;以及一栅电极,该栅电极制作于该多晶硅栅条上。
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