[发明专利]一种基于协同校验的分布式天线粗时间同步方法及系统

摘要

本发明公开一种基于协同校验的分布式天线粗时间同步方法及系统，方法包括：依据获取的分布式天线每个采样点对应的粗时间同步检验量值，得到协同天线集合及其中每个分布式天线的初步时间同步点，取协同天线集合中任意一个分布式天线为当前分布式天线与其余分布式天线配对得到多组天线对，当多组天线对中不存在异常天线，则得到标记成功的天线对及每个分布式天线的初步时间同步点为最终时间同步点，反之，存在异常天线，当有与异常天线配对的标记成功天线，依据标记成功的天线得到异常天线的最终时间同步点，反之，异常天线的初步时间同步点为最终时间同步点，此方法应用于系统中，可提高获取最终粗时间同步点的精度并降低粗时间同步的虚警概率。

主权项

一种基于协同校验的分布式天线粗时间同步方法，其特征在于，所述方法包括：获取分布式天线中每个采样点对应的粗时间同步检验量值；具体地，将所述分布式天线接收的训练序列和预设的训练序列进行相关运算处理，得到与所述分布式天线对应的相关函数，并对所述相关函数取模方处理，得到所述每个采样点对应的粗时间同步检验量值；依据所述采样点对应的粗时间同步检验量值得到协同分布式天线集合以及所述协同分布式天线集合中每个分布式天线的初步时间同步点；具体地，当所述采样点中至少一个采样点对应的粗时间同步检验量值符合第一预设条件时，将所述粗时间同步检验量值对应的分布式天线加入协同分布式天线集合，所述粗时间同步检验量值对应的分布式天线的采样点为所述分布式天线的初步时间同步点；其中，确定采样点中至少一个采样点对应的粗时间同步检验量值符合第一预设条件的过程包括：判断所述采样点中是否存在至少一个采样点，其对应的粗时间同步检验量值大于等于第一预设阈值，如果是，则符合第一预设条件，如果否，则不符合第一预设条件；取所述协同分布式天线集合中的任意一个分布式天线为当前分布式天线，将当前分布式天线与所述协同分布式天线集合中的其余分布式天线配对，得到多组分布式天线对；判断所述多组分布式天线对中是否存在异常分布式天线；如果否，则得到标记成功的分布式天线对，并且所述标记成功的分布式天线对中的每个分布式天线的初步时间同步点为最终时间同步点；如果是，则存在异常分布式天线，判断是否有与所述异常分布式天线配对的标记成功的分布式天线，如果有，将所述异常分布式天线依据所述标记成功的分布式天线得到所述异常分布式天线的最终时间同步点，如果没有，所述异常分布式天线的初步时间同步点为最终时间同步点；其中，所述判断所述多组分布式天线对中是否存在异常分布式天线的过程包括：将所述多组分布式天线对逐组进行校验，判断所述分布式天线对中两个分布式天线的初步同步时间点的差值是否在第二预设阈值范围内，如果是，则校验成功，如果否，则校验失败，若所述分布式天线对全部没有校验成功，则所述当前分布式天线为异常分布式天线；取所述分布式天线对中除异常分布式天线外的第一分布式天线，将所述第一分布式天线与所述协同分布式天线集合中的除异常分布式天线外的分布式天线进行配对，得到与所述第一分布式天线配对的分布式天线对；若所述与第一分布式天线配对的分布式天线对全部校验成功，则得到标记成功的分布式天线对，并且所述标记成功的分布式天线对中的每个分布式天线的初步时间同步点为最终时间同步点；若所述与所述第一分布式天线配对的分布式天线对全部没有校验成功，则所述第一分布式天线为异常分布式天线，依次循环，得到所述协同分布式天线集合中的所有分布式天线的校验状态，其中，所述校验状态为标记成功或异常；若所述分布式天线对中有部分分布式天线对校验成功，则得到标记成功的分布式天线对，并且所述标记成功的分布式天线对中的每个分布式天线的初步时间同步点为最终时间同步点；取所述分布式天线对中除标记成功的分布式天线外的第二分布式天线，将所述第二分布式天线与所述协同分布式天线集合中除第一分布式天线、第二分布式天线以及异常分布式天线外的分布式天线进行配对，得到与所述第二分布式天线配对的分布式天线对；若所述与第二分布式天线配对的分布式天线对全部校验成功，得到标记成功的分布式天线对，并且所述标记成功的分布式天线对中的每个分布式天线的初步时间同步点为最终时间同步点；若所述与第二分布式天线配对的分布式天线对全部没有校验成功，则所述第二分布式天线为异常分布式天线；若所述与第二分布式天线配对的分布式天线对中有部分分布式天线对校验成功，得到标记成功的分布式天线对，并且所述标记成功的分布式天线对中的每个分布式天线的初步时间同步点为最终时间同步点，并返回执行取所述分布式天线对中除标记成功的分布式天线外的第二分布式天线，将所述第二分布式天线进行配对，得到与所述第二分布式天线配对的分布式天线对，这一步骤，依次循环，得到所述分布式天线对中的所有分布式天线的校验状态，其中，所述校验状态为标记成功或异常；其中，将所述多组分布式天线对逐组进行校验，若所述分布式天线对全部没有校验成功，则所述当前分布式天线为异常分布式天线的过程包括：按照第二预设条件将所述多组分布式天线对进行排序，其中，所述第二预设条件为分布式天线对间的时延差先验信息从小到大进行排序；取出符合第三预设条件的分布式天线对，当所述分布式天线对中两个分布式天线的初步同步时间点的差值不在第二预设阈值范围内时，则所述分布式天线对校验失败；如果所述多组分布式天线对中的每个分布式天线对中的两个分布式天线的初步同步时间点的差值都不在所述第二预设阈值范围内时，则所述当前分布式天线为异常分布式天线，其中，所述第三预设条件为时延差先验信息最小的分布式天线对，所述第二预设阈值为所述分布式天线对中两个分布式天线的时延差先验信息；其中，所述将异常分布式天线依据所述标记成功的分布式天线得到所述异常分布式天线的最终时间同步点的过程包括：将所述异常分布式天线与所述协同分布式天线集合中的标记成功的分布式天线配对，得到多组分布式天线对，并按照第二预设条件排序；所述按照第二预设条件排序包括：将所述多组分布式天线对按照分布式天线对间的时延差先验信息从小到大进行排序；按预设顺序取出标记成功的分布式天线；所述预设顺序为所述标记成功的分布式天线与所述异常分布式天线按时延差先验信息从小到大的顺序；判断所述标记成功的分布式天线的最终时间同步点是否大于所述异常分布式天线的初步时间同步点，如果否，当所述标记成功的分布式天线和所述异常分布式天线的时延差先验信息符合预设范围时，以标记成功的分布式天线的最终时间同步点为起点，逐个获取所述异常分布式天线符合第一预设条件的粗时间同步检验量值，所述粗时间同步检验量值对应的时间同步点为所述异常分布式天线的最终时间同步点；如果是，则不对标记校验成功的分布式天线对进行校验；其中，所述预设范围为时延差先验信息要求；所述第一预设条件是指粗时间同步检验量值大于等于第一预设阈值。