[发明专利]一种用于补偿晶振老化的方法无效
| 申请号： | 201210411978.8 | 申请日： | 2012-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN102916654A | 公开（公告）日： | 2013-02-06 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 北京七芯中创科技有限公司 |
| 主分类号： | H03B5/04 | 分类号： | H03B5/04;G01R31/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100029 北京市朝*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种可用于补偿晶振老化的方法，该方法利用晶振的老化规律对晶振的老化进行补偿。该方法的典型结构由四部分组成，包括：计时装置、计算单元、存储单元和晶振。其中，计时装置用于记录晶振的使用时间；计算单元根据晶振使用时间和存储单元值进行老化曲线拟合，并生产补偿数据；存储单元用于存储晶振的老化值；晶振为被补偿件。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 补偿 老化 方法 | ||
【主权项】：
一种用于补偿晶振老化的方法，其特征在于该方法是利用已知的晶振老化规律对晶振的老化进行补偿，典型结构由四部分组成计时装置、计算单元、存储单元和晶振四部分组成，计时装置记录时间信息并送入计算单元；计算单元根据晶振使用时间和存储单元值进行老化曲线拟合，生产补偿数据，送入被补偿件晶振，存储单元用于存储晶振的老化值，晶振为被补偿件，计算单元、计时装置、存储单元和晶振的相互连接，组成晶振老化补偿的功能电路。
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