[发明专利]一种环形近场测试探头的设计方法在审
| 申请号： | 201210412194.7 | 申请日： | 2012-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN102955074A | 公开（公告）日： | 2013-03-06 |
| 发明（设计）人： | 宋博 | 申请（专利权）人： | 西安开容电子技术有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08;G01R33/02 |
| 代理公司： | 西安吉盛专利代理有限责任公司 61108 | 代理人： | 张培勋 |
| 地址： | 710075 陕西省西安市高新区*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明是一种环形近场测试探头的设计方法。它至少包括探头辐射体、探头腔体、射频回路和射频同轴连接器，其特征是：探头腔体是一端开口的中空绝缘壳体，其前端是圆环腔体，开口端有测试手柄，中间部分是杆状腔体；探头辐射体呈半圆环状设置在探头腔体的圆环腔体内；射频回路设置在探头腔体的另一半圆环腔体和杆状腔体内，其前芯线与探头辐射体前端的外回路层搭接焊接，射频回路与探头辐射体在前端形成绝缘间隙；射频回路拐点与探头辐射体末端通过外层回路和芯线焊接导通；测试手柄包裹在射频回路的末端外侧；射频同轴连接器内嵌在测试手柄的末端，射频回路后端芯线射频同轴连接器的线芯焊接导通，射频回路与射频同轴连接器通过外回路层360°焊接固定。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 环形 近场 测试 探头 设计 方法 | ||
【主权项】：
一种环形近场测试探头的设计方法，它至少包括探头辐射体（1）、探头腔体（2）、射频回路（3）和射频同轴连接器（5），其特征是：探头腔体（2）是一端开口的中空绝缘壳体，其前端是圆环腔体，开口端有测试手柄（4），中间部分是杆状腔体；探头辐射体（1）呈半圆环状设置在探头腔体（2）的圆环腔体内，其末端位置位于探头腔体（2）的圆环腔体与杆状腔体的连接处；射频回路（3）设置在探头腔体（2）的另一半圆环腔体和杆状腔体内，其前芯线与探头辐射体（1）前端的外回路层搭接焊接，射频回路（3）与探头辐射体（1）在前端形成绝缘间隙（6）；射频回路（3）与探头辐射体（1）在探头腔体（2）的圆环腔体与杆状腔体连接处通过外层回路和芯线全部焊接导通；测试手柄（4）包裹在射频回路（3）的末端外侧；射频同轴连接器（5）设置在探头腔体（2）的开口端，并内嵌在测试手柄（4）的末端，射频回路（3）后端的芯线插入射频同轴连接器（5）内部且与射频同轴连接器的线芯（7）焊接导通，射频回路（3）与射频同轴连接器（5）通过外回路层360°焊接固定。
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