[发明专利]基于快速全局K均值的自适应图像分割方法有效

专利信息
申请号: 201210415237.7 申请日: 2012-10-25
公开(公告)号: CN102903118A 公开(公告)日: 2013-01-30
发明(设计)人: 王爽;侯小瑾;赵丽;刘亚超;刘坤;马文萍;马晶晶;张涛 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 王品华;朱红星
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种基于快速全局K均值的自适应图像分割方法,主要解决现有技术自适应分割图像效果差和计算复杂度高的缺点,其实现步骤为:(1)读入一幅待分割的图像,提取待分割的图像的纹理特征;(2)设置图像聚类数c的搜索范围;(3)用改进后的快速全局K均值方法将纹理特征聚成c类,得到聚类中心;(4)计算每一个纹理特征属于每一类的隶属度;(5)根据隶属度和聚类中心计算聚类数为c,c-1,c-2分别对应的有效性指标L(c),L(c-1),L(c-2);(6)若L(c-1)>L(c-2)并且L(c-1)>L(c),则输出分割结果,否则,令c=c+1,返回步骤(3)。本发明与其他方法相比,计算复杂度低,自适应获得的最佳类别数和分割结果更准确,可用于对图像进行分割和聚类。
搜索关键词: 基于 快速 全局 均值 自适应 图像 分割 方法
【主权项】:
一种基于快速全局K均值的自适应图像分割方法,包括如下步骤:(1)输入一幅大小为R×Q的待分割的图像,总像素点个数为n,n=R×Q,设置该待分割的图像聚类数c的搜索范围[cmin,cmax],并令c=cmin;(2)对待分割图像的每一个像素点,用M×M的窗口进行3层小波变换,提取纹理特征xj,j=1,...,n;(3)用改进后的快速全局K均值方法将提取的纹理特征xj,j=1,...,n聚成c类,得到聚类中心V={v1,v2,..,vc},vi是每一类的聚类中心,i=1,...,c;(4)根据下式求出每一个像素点的纹理特征xj属于第i类的隶属度uij: u ij = ( ( Σ f = 1 c d i , j d f , j ) 2 m - 1 ) - 1 , 其中di,j为xj与第i类聚类中心vi的欧氏距离,df,j为xj与第f类聚类中心vf的欧氏距离j=1,2,...,n,f,i=1,2,...,c,m是模糊参数,取m=2;(5)根据隶属度uij和聚类中心V,计算聚类数为c,c‑1,c‑2分别对应的有效性指标L(c),L(c‑1),L(c‑2): L ( z ) = Σ i = 1 c ( Σ j = 1 n u ij m ) | | v i - x | | 2 / ( z - 1 ) Σ i = 1 c ( Σ j = 1 n u ij m ) | | v i - x | | 2 / ( n - z ) , z = c - 2 , c - 1 , c 其中,x中间变量, x = Σ i = 1 c Σ j = 1 n u ij m x j n ; (6)比较有效性指标L(c),L(c‑1),L(c‑2)的值,如果L(c‑1)>L(c‑2)且L(c‑1)>L(c),则最佳类别数copt=c‑1,并输出最佳类别数copt对应的分割结果,否则,令c=c+1,转至步骤(3)。
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