[发明专利]一种测量目标真实温度的辐射测温方法和仪器有效

专利信息
申请号: 201210417758.6 申请日: 2012-10-26
公开(公告)号: CN103048050A 公开(公告)日: 2013-04-17
发明(设计)人: 肖功弼;张文生 申请(专利权)人: 中国科学院自动化研究所
主分类号: G01J5/00 分类号: G01J5/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 宋焰琴
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种测量目标真实温度的辐射测温方法,包括:通过三波长辐射测温仪获取三个波长对应的实测亮温Tsi、目标的近似真温T以及三个比色温度Tci,三个波长为等间隔;根据实测亮温Ts1、Ts2、Ts3以及近似真温T的数值,确定目标在三个波长下的发射率ελ1、ελ2、ελ3;根据计算出的目标在三个波长下的发射率值及近似真温T值,计算目标对应三个波长的比色温度Tci’;根据实测比色温度与计算比色温度,求得均方差之和∑ΔT2;利用改变(Δ=1)后的近似真温的值进一步计算发射率以及比色温度值,进一步求得实测比色温度与该计算比色温度的均方差,比较两个均方差的大小,直至均方差之和最小时,即找到实际真温值T真。利用本发明的方法,可测得目标的真实温度。
搜索关键词: 一种 测量 目标 真实 温度 辐射 测温 方法 仪器
【主权项】:
一种测量目标真实温度的辐射测温方法,该方法包括:步骤1,通过三波长辐射测温仪获取三个波长对应的实测亮温Tsi、目标的近似真温T以及三个比色温度Tci,其中i的值为1、2和3,三个波长为等间隔;步骤2,根据实测亮温Ts1、Ts2、Ts3以及近似真温T的数值,确定目标在三个波长下的发射率ελ1、ελ2、ελ3;步骤3,根据步骤2计算出的目标在三个波长下的发射率值及近似真温T值,计算目标对应三个波长的比色温度Tc1’、Tc2’、Tc3’;步骤4,根据步骤1中的实测比色温度与步骤3中计算出的比色温度,求得均方差之和∑ΔT2如下:∑ΔT2=(Tc1‑Tc1’)2+(Tc2‑Tc2’)2+(Tc3‑Tc3’)2;步骤5,令近似真温T’=T+1,并根据实测亮温Ts1、Ts2、Ts3按照步骤2的方式计算出目标的三个波长的发射率ελ1′、ελ2′、ελ3′;步骤6,按照步骤5计算得到的发射率ελ1′、ελ2′、ελ3′及T’=T+1的值,按照步骤3的方式计算出目标的三个比色温度值Tc1”、Tc2”、Tc3”;步骤7,根据计算的比色温度Tc1”、Tc2”、Tc3”值与实测比色温度Tc1、Tc2、Tc3,求得均方差之和为:(∑ΔT2)’=(Tc1‑Tc1”)2+(Tc2‑Tc2”)2+(Tc3‑Tc3”)2;步骤8,若(∑ΔT2)’<(∑ΔT2),则近似真温T’=T+1比T更接近实际真温T真,则令近似真温T”=T’+1=T+2,继续重复步骤5‑7,直至均方差之和最小时,即认为找出实际真温T真值,若(∑ΔT2)’>(∑ΔT2),则近似真温T’=T+1已远离实际真温T真,向反方向求实际真温值,即令T’=T‑1,继续按步骤5‑7算出∑ΔT2,直至均方差之和最小时,即找到实际真温值T真。
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