[发明专利]18颗粒任意位宽存储接口的单颗粒容错方法

摘要

一种18颗粒任意位宽存储接口的单颗粒容错方法，包括：采用256+32编码形式的纠错编码矩阵，并采用数据纵向积累校验字的方式进行校验；其中，纠错编码矩阵包括288行32列，其中纠错编码矩阵自上而下分为18个子矩阵，每个子矩阵包括16行32列；其中，在用Hi表示纠错编码矩阵的第i行、用Erj和Eri以及Ebi和Ebj表示单位矩阵情况下，纠错编码矩阵H满足以下3个条件：第一，任意子矩阵内各行向量线性不相关；第二，任意两个子矩阵满足Hi*Eri!=Hj*Erj(i!=j),Erj和Eri的取值范围为{1,2,3,4,5,6,…255}；第三，任意三个子矩阵满足Hi*Ebi+Hj*Ebj!=Hk*Erk(i!=j),Ebi，Ebj取值范围为{1,2,4,8,16,32,…128}。本发明提供了一种能够针对18片任意位宽颗粒的存储接口提供单颗粒容错能力、且能高效检出双颗粒故障的单颗粒容错方法。

主权项

一种18颗粒任意位宽存储接口的单颗粒容错方法，其特征在于包括：采用256+32编码形式的纠错编码矩阵，并采用数据纵向积累校验字的方式进行校验；其中，纠错编码矩阵包括288行32列，其中纠错编码矩阵自上而下分为18个子矩阵，每个子矩阵包括16行32列；其中，在用Hi表示纠错编码矩阵的第i行、用Erj和Eri以及Ebi和Ebj表示单位矩阵情况下，纠错编码矩阵H满足以下3个条件：第一，任意子矩阵内各行向量线性不相关；第二，任意两个子矩阵满足Hi*Eri!=Hj*Erj(i!=j),Erj和Eri的取值范围为{1,2,3,4,5,6,…255}；第三，任意三个子矩阵满足Hi*Ebi+Hj*Ebj!=Hk*Erk(i!=j),Ebi，Ebj取值范围为{1,2,4,8,16,32,…128}。