[发明专利]晶控仪的晶振片阻力损耗测量电路及其测量方法有效
| 申请号： | 201210425445.5 | 申请日： | 2012-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN102914698A | 公开（公告）日： | 2013-02-06 |
| 发明（设计）人： | 张子业 | 申请（专利权）人： | 上海膜林科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 上海申汇专利代理有限公司 31001 | 代理人： | 林炜 |
| 地址： | 201612 上海市松江区漕河泾开*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种晶控仪的晶振片阻力损耗测量电路及其测量方法，涉及晶控仪技术领域，所解决的是测量晶振片阻力损耗的技术问题。该电路利用微处理器控制正弦信号发生器向待测晶振片输出正弦波测试信号，通过微处理器测量出待测晶振片在不同频率正弦波测试信号下的振荡幅度，并对此进行归一化处理，计算出晶振片的阻力损耗。本发明提供的电路及方法，能用于检查晶控仪的晶振探头回路状态，及晶振片的安装质量，晶振片的更换时机等。 | ||
| 搜索关键词： | 晶控仪 晶振片 阻力 损耗 测量 电路 及其 测量方法 | ||
【主权项】：
一种晶控仪的晶振片阻力损耗测量电路，涉及待测晶振片，其特征在于：该电路包括微处理器、正弦信号发生器，及两个电压跟随回路，所述两个电压跟随回路分别为第一电压跟随回路、第二电压跟随回路；所述微处理器设有一控制信号输出端、一测量信号输入端，微处理器的控制信号输出端接到正弦信号发生器的控制信号输入端；所述第一电压跟随回路的输入端接到正弦信号发生器的信号输出端，第一电压跟随回路的输出端经一分压电阻接到第二电压跟随回路的输入端；所述第二电压跟随回路的输出端依次经一整流回路、一滤波回路、一电平变换回路、一模数转换器接到微处理器的测量信号输入端；所述待测晶振片的一个电气连接端接地，另一个电气连接端接到第二电压跟随回路的输入端。
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