[发明专利]一种测试FPGA的装置与方法有效
| 申请号： | 201210427357.9 | 申请日： | 2012-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN103792487A | 公开（公告）日： | 2014-05-14 |
| 发明（设计）人： | 王飞;杨海钢 | 申请（专利权）人： | 中国科学院电子学研究所 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 曹玲柱 |
| 地址： | 100080 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种测试FPGA的装置与方法。该测试FPGA的装置位于FPGA芯片内，包括：自测试控制器，用于按照预设时序生成地址生成信号和回读使能信号；地址生成器，用于在地址生成信号的驱动下，生成遍历被测试的FPGA配置阵列的地址，并使该地址对应的FPGA配置阵列处于相应的读写状态；数据生成器，用于在回读使能信号的作用下，对于由地址生成器提供的每一个地址，依据该地址，首先从FPGA配置阵列读取配置数据，对该配置数据进行变换形成一组新的测试配置数据，然后将新产生的测试配置数据重新写回至FPGA配置阵列的该地址。本发明减少了从芯片外部串行加载测试配置的次数，提升了测试效率，降低了测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 fpga 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种测试FPGA的装置，其特征在于，位于FPGA芯片内，包括：一数据生成器、一地址生成器、一自测试控制器；其中，自测试控制器，用于按照预设时序生成地址生成信号和回读使能信号；地址生成器，与被测试FPGA配置阵列相连接，用于在所述地址生成信号的驱动下，生成遍历被测试的FPGA配置阵列的地址，并使该地址对应的FPGA配置阵列处于相应的读写状态；数据生成器，与被测试FPGA配置阵列相连接，用于在回读使能信号的作用下，对于由地址生成器提供的每一个地址，依据该地址，从FPGA配置阵列读取配置数据，对该配置数据进行变换形成一组新的测试配置数据，然后将新产生的测试配置数据重新写回至FPGA配置阵列的该地址。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院电子学研究所，未经中国科学院电子学研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201210427357.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：数字化计量装置的误差测试系统及测试方法
- 下一篇：自适应量程电阻测试方法
